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ESD（Electrostatic Discharge）即“靜電放電”或稱“靜電泄放”。從事電子產(chǎn)品硬件設(shè)計(jì)和生產(chǎn)工藝的工程師都應(yīng)該要理解和掌握 ESD 的相關(guān)知識。

2022/06/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

EMC是對一個(gè)電子工程師能力的一個(gè)全面考量，整改過程可能會涉及到結(jié)構(gòu)，軟件，硬件，從芯片級，板級到系統(tǒng)級的各個(gè)層級，EMC問題中最為常見的就是RE輻射類問題。

2022/05/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文根據(jù)市面前三的打印機(jī)品牌的外圍接口電路防靜電設(shè)計(jì)，給廣大硬件工程師科普下接口電路設(shè)計(jì)的要點(diǎn)和方案圖。

2023/07/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享

時(shí)鐘問題作為RE測試中最常見的輻射問題之一，該如何解決時(shí)鐘輻射超標(biāo)問題，也困擾著廣大研發(fā)和硬件工程師。本文在本人在整改時(shí)遇到的時(shí)鐘問題進(jìn)行探討，分享一些個(gè)人的見解。

2023/10/31 更新 分類：檢測案例 分享

EMC是對一個(gè)電子工程師能力的一個(gè)全面考量，整改過程可能會涉及到結(jié)構(gòu)，軟件，硬件，從芯片級，板級到系統(tǒng)級的各個(gè)層級，EMC問題中最為常見的就是RE輻射類問題。

2025/05/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電路設(shè)計(jì)中的“地”怎么設(shè)計(jì)，怎么連接一直是是硬件工程師在設(shè)計(jì)和調(diào)試過程中經(jīng)常會遇到的挑戰(zhàn)之一。雷卯對地簡單闡述如下。

2025/08/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

硬件設(shè)計(jì)基礎(chǔ)60個(gè)問答

2022/11/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情，比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間，有時(shí)甚至炸機(jī)。

2017/11/01 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

FPGA和ASIC在降低功耗的同時(shí)，也具有越來越多的驅(qū)動電壓，某些器件還特別對各種電壓的上電順序有嚴(yán)格的要求。硬件工程師在應(yīng)用這些器件進(jìn)行系統(tǒng)功能設(shè)計(jì)的同時(shí)，也將越來越多的面臨如何提高電源可靠性方面的挑戰(zhàn)。

2020/08/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹了硬件開發(fā)的流程。

2022/03/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享