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本文通過(guò)案例介紹了TVS管失效導(dǎo)致產(chǎn)品異常的情況如何分析。
2021/12/31 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要分析了模壓繞線片式電感失效機(jī)理。
2022/01/05 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文通過(guò)分析4140鋼鍍鎘護(hù)圈在硬點(diǎn)出引弧造成的脆性斷裂介紹了電鍍不當(dāng)引起的失效。
2022/01/25 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了功率器件的失效分析及封裝工藝優(yōu)化研究。
2022/03/02 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
不銹鋼螺紋組件安裝失效原因分析及預(yù)防。
2022/03/22 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
GH4698高溫合金螺栓斷裂失效分析.
2022/06/09 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了屏蔽罩失效分析與整改案例。
2025/04/15 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
芯片封裝綁線設(shè)計(jì): 1.金線的選擇,2. 芯片pad設(shè)計(jì)規(guī)則;WB工藝主要從:工藝,主要參數(shù)對(duì)鍵合的影響,劈刀的選型,打線可靠性標(biāo)準(zhǔn),線弧設(shè)計(jì),常見(jiàn)不良及原因分析和如何提升打線效率幾個(gè)方面。
2021/06/24 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文對(duì)于典型電子元器件的耐受環(huán)境極限進(jìn)行分析,研究表明,電子設(shè)備對(duì)于熱環(huán)境及沖擊、振動(dòng)環(huán)境比較敏感,易發(fā)生焊點(diǎn)失效及其他結(jié)構(gòu)失效。
2020/03/20 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了MEMS的典型失效模式和失效機(jī)理,以期對(duì)相關(guān)技術(shù)人員在開(kāi)展失效分析和可靠性設(shè)計(jì)工作時(shí)有所幫助。
2020/04/30 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享