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  • 美國(guó)西北大學(xué)JACS：在聚合物納米反應(yīng)器中，無(wú)窗觀察Au-Pt納米粒子蒸發(fā)誘導(dǎo)粗化

    【引言】 納米粒子和溶劑之間的相互作用，對(duì)于形成復(fù)亞穩(wěn)態(tài)納米結(jié)構(gòu)非常重要。但是采用傳統(tǒng)的液體電池透射電子顯微鏡（TEM），直接觀察是非常困難的。那么如何才能觀察到納米粒

    2018/06/11 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 高端透射電鏡技術(shù)在納米材料領(lǐng)域的應(yīng)用

    近年來(lái)納米材料領(lǐng)域應(yīng)用的高端透射電鏡技術(shù)，并通過(guò)實(shí)例了解這些高端透射電鏡技術(shù)是如何助力納米材料發(fā)展的，主要包括高分辨透射技術(shù)、原位電鏡技術(shù)、低溫冷凍電鏡、球差電鏡。

    2021/03/29 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 透射電鏡TEM測(cè)試，載網(wǎng)膜如何選擇？

    透射電鏡用載網(wǎng)及載網(wǎng)膜有不同的種類，使用時(shí)需要根據(jù)樣品及觀察目的選擇合適的載網(wǎng)膜，才能有效地觀察到樣品的結(jié)構(gòu)。

    2024/06/14 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 透射電鏡TEM衍射斑點(diǎn)標(biāo)定

    　TEM作為一種常用的微觀結(jié)構(gòu)表征技術(shù)已經(jīng)在材料科學(xué)、生物等學(xué)科被廣泛應(yīng)用，而作為材料人的你又怎能不對(duì)TEM做深入的了解。今天來(lái)我們一起來(lái)看看如何搞定TEM透射電鏡衍射斑點(diǎn)標(biāo)定

    2019/09/12 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 深度剖析多種TEM制樣攻略！

    本文將對(duì)透射電鏡常見(jiàn)的各種制樣方法進(jìn)行介紹與對(duì)比。

    2023/06/26 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 納米氧化硅的制備表征案例分析

    本文通過(guò)舉例介紹不同粒徑大小的納米氧化硅顆粒的合成，并展示透射電鏡TEM對(duì)納米顆粒進(jìn)行分析表征 結(jié)果。

    2019/09/23 更新 分類：檢測(cè)案例 分享

  • 低溫電子顯微鏡技術(shù)時(shí)代來(lái)臨

    低溫電子顯微技術(shù)(CRYO-ELECTRON MICROSCOPY)的出來(lái)，引爆了揭示細(xì)胞內(nèi)隱秘機(jī)制的革命，X射線晶體衍射技術(shù)(X-RAY CRYSTALLOGRAPHY)即將成為歷史。 劍橋大學(xué)地下室 一場(chǎng)技術(shù)革命正在醞釀。 一個(gè)

    2015/10/22 更新 分類：其他 分享

  • 基于聚焦離子雙束電鏡的透射電鏡微柱試樣制備

    研究人員對(duì)FIB-SEM 制備TEM試樣的常規(guī)方法進(jìn)行了改進(jìn)，成功制備出微柱變形試樣的TEM試樣，研究結(jié)果可為微柱及凹坑內(nèi)試樣的TEM試樣制備提供技術(shù)參考。

    2024/11/28 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 原位（in-situ）透射電子顯微學(xué)簡(jiǎn)介

    原位透射電子顯微學(xué)（in-situ TEM）是指直接在原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及化學(xué)反應(yīng)過(guò)程中的微結(jié)構(gòu)演化及進(jìn)行表征的過(guò)程，近年來(lái)成為材料研究的熱門領(lǐng)域。

    2019/04/16 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 什么類型的材料適用FIB-TEM制樣？

    雙束聚焦離子束-掃描電鏡技術(shù)（Duel Beam Focused Ion Beam,FIB）具有諸多高端優(yōu)勢(shì)和較強(qiáng)的應(yīng)用能力，是新材料開(kāi)發(fā)中高分辨率表征的重要方法。常用的應(yīng)用之一是制備透射電鏡（TEM）樣品。

    2023/01/12 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享