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本文提供了雜化鹵化鉛鈣鈦礦原子層次的理解，揭示了其性能卓越背后的機理。鈣鈦礦結(jié)構(gòu)對有機陽離子損失的高度適應(yīng)性使部分降解材料具有特殊的再生性能。這種原子局部化的信息，使得有針對性的設(shè)計方法來消除缺陷和優(yōu)化這些材料的界面。

2020/11/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享

雙光子顯微鏡（Two-photon microscope，TPM）作為一種基于非線性光學(xué)效應(yīng)的高分辨率三維成像技術(shù)，近年來在化妝品功效評價領(lǐng)域展現(xiàn)出顯著的應(yīng)用潛力。

2025/04/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享

高分辨透射電鏡（HRTEM）粉末樣品要求、送樣品前的準備工作、粉末樣品的制備、塊狀樣品制備

2019/09/06 更新 分類：實驗管理 分享

黃曉旭團隊經(jīng)過十多年的不懈努力，在國家重點研發(fā)計劃等項目的支持下，成功開發(fā)了一系列基于電子衍射的三維透射電鏡技術(shù)，空間分辨率1nm。

2023/12/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。它的的原理較為簡單，它是用微小探針“摸索”樣品表面來獲得信息

2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。AFM制樣時，對樣品導(dǎo)電與否沒有要求，因此測量范圍比較廣泛。

2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

近期，中國科學(xué)院金屬研究所沈陽材料科學(xué)國家研究中心先進炭材料研究部研究人員與日本國立材料科學(xué)研究所湯代明研究員、韓國蔚山國立科技大學(xué)丁峰教授等團隊合作，采用封閉腔體環(huán)境透射電子顯微鏡，在原子尺度上原位研究了Co-W-C合金催化劑在常壓條件下生長碳納米管的過程，確定其催化活性相為立方晶系η-碳化物單相，觀察到了合金催化劑納米顆粒的相對轉(zhuǎn)動，發(fā)現(xiàn)了

2022/12/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享

誕生了國際三大無鹵標準：日本電子電路工業(yè)會(Electronics Packaging and Circuits Association)的JPCA-ES-01-2003、國際電工委員會(International Electrotechnical Commission)的IEC 61249-2-21和美國電子工業(yè)聯(lián)接協(xié)會(Interconnecting and Packaging Electronic Circuits)的IPC 4101B。

2016/05/18 更新 分類：法規(guī)標準 分享

TEM、SEM測試常見問題匯總。

2022/09/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了TEM制樣常見的7個問題。

2022/09/13 更新 分類：實驗管理 分享