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  • 掃描電子顯微鏡在涂料中的應用及相關標準簡介

    作為材料科學最強大的研究工具之一，掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope, SEM）能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形態(tài)和結構，它的應用范圍非常廣泛。

    2025/07/27 更新 分類：法規(guī)標準 分享

  • PCBA可靠性分析中金相制樣技巧與數(shù)字圖像處理的應用

    PCBA樣品金相切片主要步驟有取樣、鑲嵌、研磨、拋光。與普通金屬樣品相比，PCBA切片樣品具有體積小，成分復雜，磨拋位置要求精準的特點，對手工制樣的經(jīng)驗和技巧有更高的要求，要對制樣過程進行適當?shù)恼{(diào)整，不能人為引入缺陷，造成焊點變化，要兼顧樣品制備的速度與質(zhì)量。

    2020/10/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 一種鋁導線火災熔痕的彩色金相檢驗方法

    研究人員研究了一種給鋁導線火災熔痕的顯微組織著色的彩色金相檢驗方法，對熔痕中不同位向的晶粒進行著色，觀察熔痕晶粒的形狀、大小等特征，為分析鋁導線火災熔痕的形成原因提供了新的發(fā)展方向。

    2023/08/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 【實驗培訓】金相分析測試操作培訓課程

    金相分析測試操作培訓課程

    2024/12/12 更新 分類：培訓會展 分享

  • 電子元器件顯微分析技術簡介

    電子元器件顯微分析技術簡介

    2016/01/08 更新 分類：實驗管理 分享

  • 掃描電鏡的樣品制備方法

    掃描電子顯微鏡樣品制備比透射電鏡樣品制備簡單，不需要包埋和切片

    2017/06/14 更新 分類：實驗管理 分享

  • 原子力顯微鏡(AFM)工作原理介紹

    AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。它的的原理較為簡單，它是用微小探針“摸索”樣品表面來獲得信息

    2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 　原子力顯微鏡制樣流程及應用

    AFM全稱Atomic Force Microscope，即原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器，可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測，或者直接進行納米操縱。AFM制樣時，對樣品導電與否沒有要求，因此測量范圍比較廣泛。

    2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 原子力顯微鏡之數(shù)據(jù)分析

    本文講解當獲得AFM圖像后，如何正確地進行圖像分析和數(shù)據(jù)處理。

    2021/04/13 更新 分類：檢測案例 分享

  • 顯微鏡需要做哪些維護和保養(yǎng)？

    顯微鏡是一種精密的光學儀器，因此在正確使用的同時，做好顯微鏡的日常維護和保養(yǎng)，也是非常重要的一環(huán)。

    2025/03/11 更新 分類：實驗管理 分享