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  • 各類麻纖維在不同顯微鏡下的特征分析

    紡織用麻纖維最常見的有亞麻、苧麻、大麻，近年來，羅布麻、黃麻的紡織產(chǎn)品也日益增多。這些麻均屬于韌皮纖維，所以微觀形態(tài)與化學性能都較為相似，因此在使用傳統(tǒng)顯微鏡辨別其具體種類存在一定的難度。

    2018/06/07 更新 分類：生產(chǎn)品管 分享

  • 原子力顯微鏡（AFM）的使用和成像技巧

    根據(jù)針尖與試樣表面相互作用力的變化，AFM主要有3種操作模式：接觸模式(contact mode),非接觸模式(non-contact mode)和敲擊模式(tapping mode)。

    2018/06/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電子顯微圖像的自動識別

    電子顯微鏡和缺陷分析是材料科學的基石，因為它們提供了關(guān)于微觀結(jié)構(gòu)的詳細描述以及各種材料和材料體系的性能

    2018/10/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡基本結(jié)構(gòu)簡析

    掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成，即電子光學系統(tǒng)、信號探測處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。

    2019/09/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡在光子晶體方面的應(yīng)用

    掃描電子顯微鏡是光子晶體研究中不可缺少的分析儀器，主要用于：原材料的篩選（顆粒尺寸范圍，顆粒尺寸統(tǒng)計，快速篩樣）和組裝過程分析

    2019/09/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡中實現(xiàn)納米尺度直接操縱位錯

    位錯對材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置，對雙層石墨烯中的位錯成像，并同時在納米尺度原位操縱位錯，可以直接揭示線張力、位錯相互作用、節(jié)點形成等位錯的基本特性。

    2021/02/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 色差和會聚角對像分辨率的影響

    在實際高分辨電子顯微鏡像的觀察中，除物鏡的襯度傳遞函數(shù)外，入射電子的能量變化、色差以及試樣上入射電子的會聚角等都會引起分辨率下降。

    2021/04/09 更新 分類：實驗管理 分享

  • PP復合材料彎折發(fā)白成因分析及改善

    本文通過掃描電子顯微鏡 ( SEM) 和透射電子顯微鏡(TEM) 相結(jié)合的方法探討了應(yīng)力發(fā)白產(chǎn)生的原因，并通過加入不同種類的增韌劑、相容劑，以及提高色粉的含量以改善應(yīng)力發(fā)白的情況。

    2023/04/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 掃描電子顯微鏡用X射線能譜儀在定量分析中的應(yīng)用

    采用掃描電子顯微鏡（SEM）與X射線能譜儀（EDS）聯(lián)合應(yīng)用的方法對材料進行微區(qū)化學成分分析是一種重要的分析手段。

    2024/11/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 超聲波掃描顯微鏡（SAM）檢測中器件吸水對分層信號的影響分析

    本文將深入探討器件吸水對SAM檢測波形的影響機制，分析“假粘附”現(xiàn)象的成因，并提出相應(yīng)的識別與應(yīng)對策略，以提高SAM檢測的準確性和可靠性。

    2026/01/13 更新 分類：實驗管理 分享