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某醫(yī)療器械公司藥物鑒定系統(tǒng)產(chǎn)品,該產(chǎn)品可對(duì)某些藥物進(jìn)行種屬鑒定分析。
2024/08/13 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
本文詳細(xì)解讀了空氣放電與接觸放電方法兩種測(cè)試方法的不同點(diǎn),供大家參考。
2025/03/27 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
ESD測(cè)試過(guò)程中,有時(shí)時(shí)候會(huì)遇到EUT擺放方式對(duì)靜電放電測(cè)試結(jié)果影響很大的情況,相信肯定有部分伙伴遇到過(guò),今天我們就來(lái)分析其原理。
2025/04/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了醫(yī)療器械EMC靜電放電試驗(yàn)、防護(hù)措施及整改案例分析分享。
2025/05/25 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
靜電放電試驗(yàn)主要檢查人或物體在接觸設(shè)備時(shí)所引起的放電(直接放電),以及人或物體對(duì)設(shè)備鄰近物體的放電(間接放電)時(shí)對(duì)設(shè)備工作造成的影響。靜電放電時(shí)可以在0.5~20ns的時(shí)間內(nèi)產(chǎn)生1~50A的放電電流。雖然電流很大但因持續(xù)時(shí)間很短,故能量很小。所以一般靜電放電不會(huì)對(duì)人產(chǎn)生傷害,但對(duì)集成電路芯片等電子產(chǎn)品可能產(chǎn)生破壞性的危害。
2020/11/16 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文通過(guò)一個(gè)設(shè)備在技術(shù)開發(fā)階段遇到的質(zhì)量問(wèn)題,比較兩種模式:腔體結(jié)構(gòu)的電壓耦合量是無(wú)腔體結(jié)構(gòu)的9.34倍,由此可以得出我的結(jié)論腔體結(jié)構(gòu)對(duì)靜電電荷有很大的耦合功功能和放大的結(jié)論。
2021/12/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
自然界中充斥著靜電。對(duì)于集成電路行業(yè),每一顆芯片從最開始的生產(chǎn)制造過(guò)程、封裝過(guò)程、測(cè)試過(guò)程、運(yùn)輸過(guò)程到最終的元器件的焊接、組裝、使用過(guò)程,幾乎時(shí)刻都伴隨著靜電,在任何一個(gè)環(huán)節(jié)靜電都有可能對(duì)芯片造成損傷。
2022/07/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
盡管HBM模型和IEC61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)所模擬的ESD來(lái)源都是外部帶靜電的人體或物體,但兩種標(biāo)準(zhǔn)面向的被放電的具體對(duì)象是不同的,并且他們的測(cè)試要求有幾個(gè)最重要的差別值得注意。
2023/04/26 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
依據(jù)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2標(biāo)準(zhǔn)中規(guī)定了四個(gè)測(cè)試等級(jí)和1個(gè)開放測(cè)試等級(jí)。具體選擇哪個(gè)測(cè)試等級(jí)依據(jù)產(chǎn)品所應(yīng)用的行業(yè)領(lǐng)域以及某些特定的場(chǎng)景要求所共同確定。
2024/01/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
某微投產(chǎn)品,在Wi-Fi模式下播放視頻文件時(shí),對(duì)其外部金屬端口進(jìn)行±4KV接觸放電測(cè)試時(shí),出現(xiàn)Wi-Fi設(shè)備掉線問(wèn)題。需要重新連接Wi-Fi設(shè)備,方可恢復(fù)播放視頻,不符合靜電放電測(cè)試B等級(jí)判定結(jié)果。
2025/03/16 更新 分類:檢測(cè)案例 分享