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GJB151B-2013 對(duì)地的Y電容泄漏電流
2024/12/22 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
GJB151C-2025 電磁兼容檢測(cè)項(xiàng)目與應(yīng)用場(chǎng)景。
2025/11/09 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
GJB9001C-2017質(zhì)量管理體系要求已于2017年5月18日發(fā)布,并于2017年07月1日正式實(shí)施。該標(biāo)準(zhǔn)相較于B版標(biāo)準(zhǔn)有哪些調(diào)整或者變化呢? 新標(biāo)準(zhǔn)所代替標(biāo)準(zhǔn)的歷次版本發(fā)布情況為:GJB/Z 9001-199
2018/03/23 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
軍用設(shè)備GJB151B-2013主要測(cè)試哪些電磁兼容檢測(cè)項(xiàng)目,GJB151B-2013軍用設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度要求與測(cè)量給出了特定場(chǎng)合下的軍用設(shè)備的檢測(cè)項(xiàng)目以及評(píng)估方法。
2021/06/17 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
要順利通過CS106試驗(yàn),需要采取什么措施?
2024/07/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
GJB 151B常見問題解答
2024/08/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
GJB548《微電子器件試驗(yàn)方案和程序》規(guī)定了軍用微電子器件的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)、電學(xué)試驗(yàn)和檢驗(yàn)程序。
2023/07/04 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
GJB4027《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍用電子元器件破壞性物理分析(DPA)的通用方法。
2023/07/17 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
GJB 151C-2025與GJB 151B-2013相比,主要有下列變化。
2025/02/05 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文解析《GJB 151C-2024》軍用 EMC 標(biāo)準(zhǔn)核心修訂,含新增測(cè)試 / 附錄、方法優(yōu)化等,為裝備研制測(cè)試提供適配指引
2026/01/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享