您當(dāng)前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
在電子元器件從設(shè)計(jì)到使用的全生命周期中,失效分析(Failure Analysis, FA)是確??煽啃缘暮诵沫h(huán)節(jié)。它如同電子世界的"法醫(yī)學(xué)",通過系統(tǒng)化的方法揭示器件失效的真相。本文將側(cè)重說明失效物理分析(PFA)的基本程序、常見失效模式與機(jī)理,以及關(guān)鍵注意事項(xiàng),帶您走進(jìn)精密電子器件的微觀世界。
2025/08/20 更新 分類:檢測案例 分享
“從臨床前研究到肺靜脈隔離(PVI)超過90%的耐久性,觀察到了CENTAURI PEF的進(jìn)展正如我們在ECLIPSE-AF研究中使用所有主要制造商的導(dǎo)管所實(shí)現(xiàn)的那樣,該系統(tǒng)將對我的日常實(shí)踐產(chǎn)生變革。在最初的幾天里,我們治療了PVI的新發(fā)心房顫動(dòng)患者和PVI以外更廣泛病變組的復(fù)發(fā)患者,證明了最終的靈活性。”
2022/08/30 更新 分類:熱點(diǎn)事件 分享