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  • 基于XPS技術(shù)的表面表征

    X射線光電子能譜是分析物質(zhì)表面化學(xué)性質(zhì)的一項(xiàng)技術(shù)。

    2017/11/07 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • X射線光電子能譜分析（XPS）概述

    X射線光電子能譜技術(shù)是一種表面分析方法。

    2016/01/05 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 先進(jìn)材料表征方法

    本文介紹了先進(jìn)材料表征方法，特點(diǎn)及應(yīng)用領(lǐng)域，包括：X射線能譜分析（EDS），聚焦離子束分析（FIB），俄歇電子能譜分析（AES），X射線光電子能譜分析（XPS），動(dòng)態(tài)二次離子質(zhì)譜分析（D-SIMS）及飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）。

    2021/08/02 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • X射線光電子能譜測(cè)試原理

    X射線光電子能譜技術(shù)（XPS）是電子材料 與元器件顯微分析中的一種先進(jìn)分析技術(shù)，而且是和 俄歇電子能譜 技術(shù)（AES）常常配合使用的分析技術(shù)。由于它可以比俄歇電子能譜技術(shù)更準(zhǔn)確

    2016/07/08 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 十大PCB失效分析技術(shù)（附案例分析）

    本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù):外觀檢查;X射線透視檢查;切片分析;掃描聲學(xué)顯微鏡;顯微紅外分析;掃描電子顯微鏡分析;X射線能譜分析;光電子能譜（XPS）分析；熱分析差示掃描量熱法及熱機(jī)械分析儀（TMA），并附了案例分析。

    2021/07/28 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 常見(jiàn)異物分析技術(shù)介紹及案例分享

    異物分析目前常見(jiàn)的分析手段有紅外分析及SEM/EDS元素分析，除此之外行業(yè)內(nèi)比較常用的還有X射線光電子能譜分析(XPS)， 俄歇電子能譜分析(AES)等。每種分析技術(shù)都有其特點(diǎn)，選擇合適的分析方法才能解決問(wèn)題。

    2019/09/26 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享