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MOS管是金屬(metal)—氧化物(oxide)—半導(dǎo)體(semiconductor)場(chǎng)效應(yīng)晶體管,或者稱是金屬—絕緣體(insulator)—半導(dǎo)體。
2018/10/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
4 種方法測(cè)試mos管的好壞。
2025/07/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
MOS管波形異常的解決辦法。
2025/07/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
小信號(hào)MOS在進(jìn)行可靠性測(cè)試時(shí)失效,經(jīng)測(cè)試為GS漏電,對(duì)故障樣品進(jìn)行失效分析。
2024/11/16 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
MOS管發(fā)生雪崩失效與其自身特性有關(guān)。實(shí)際的工程應(yīng)用中,功率器件會(huì)降額,從而留有足夠的電壓余量。通過(guò)增加緩沖吸收電路,進(jìn)一步避免或延緩其失效的發(fā)生。
2021/06/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
MOS管一個(gè)ESD敏感器件,它本身的輸入電阻很高,而柵-源極間電容又非常小,所以極易受外界電磁場(chǎng)或靜電的感應(yīng)而帶電,又因在靜電較強(qiáng)的場(chǎng)合難于泄放電荷,容易引起靜電擊穿。
2023/11/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
最近做了一款正激有源鉗位電源,DC48輸入,DC28V輸出,功率200W,頻率100K。下邊分別說(shuō)說(shuō)MOS管的差異
2024/12/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
雪崩擊穿參數(shù)是MOS管在關(guān)斷狀態(tài)能承受過(guò)壓能力的指標(biāo),電壓超過(guò)漏源極限電壓將導(dǎo)致器件處在雪崩狀態(tài)。
2025/02/22 更新 分類:科研開發(fā) 分享
MOS管靜態(tài)參數(shù)指標(biāo)包含:漏-源擊穿電壓V(BR)DSS、開啟電壓VTH、漏-源飽和漏電流IDSS、柵-源驅(qū)動(dòng)電流或反向電流IGSS、導(dǎo)通電阻RDS(on)、柵源擊穿電壓VGS。
2024/11/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文闡釋 Buck 電路的降壓工作原理,詳解控制器芯片、MOS 管等核心器件的選型標(biāo)準(zhǔn)與參數(shù)計(jì)算,助力電子電氣設(shè)備電源設(shè)計(jì)。
2026/01/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享