本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子元器件產(chǎn)品的恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗。用來定量地分析產(chǎn)品的可靠性。在制訂有可靠性指標(biāo)要求的產(chǎn)品技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)時，為鑒定產(chǎn)品的失效率等級、壽命特征、產(chǎn)品失效分布、加速方程和加速系數(shù)等提供統(tǒng)一的方法。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法的程序。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法的程序和方法。
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了用于恒定應(yīng)力壽命和加速壽命試驗的最好線性無偏估計法的程序和方法。
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