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本文介紹了熱電偶溫度測(cè)量的原理—“塞貝克效應(yīng)”和熱電偶校驗(yàn)方法。
2021/05/07 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文對(duì)方法耐用性的評(píng)價(jià)進(jìn)行了探討,包括耐用性評(píng)估方法與實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì),通過(guò)因子影響效應(yīng)計(jì)算和統(tǒng)計(jì)學(xué)評(píng)估,幫助判斷方法耐用性的影響情況
2021/05/31 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了微電子器件封裝失效機(jī)理與對(duì)策:封裝材料α射線引起的軟誤差,水汽引起的分層效應(yīng),金屬化腐蝕及鍵合引線失效。
2022/01/24 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了由應(yīng)用引起的各類(lèi)器件失效機(jī)理分析:電熱效應(yīng)引起的失效,靜電放電引起的失效及電浪涌損傷失效。
2022/01/24 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
波科的消融系統(tǒng),包括主機(jī)、冷凍球囊、環(huán)肺靜脈標(biāo)測(cè)導(dǎo)管和輸送鞘。消融系統(tǒng)的原理是由高壓笑氣(N?0)通過(guò)焦耳一湯姆遜效應(yīng)制冷。
2022/03/14 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了共振的原理,共振的現(xiàn)象,電路共振(諧振), 80%以上的EMC問(wèn)題與共振有關(guān),如何解決共振引起的EMC問(wèn)題及工作中的“濾波器效應(yīng)”。
2022/06/08 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本工作通過(guò)對(duì)鎳基單晶高溫合金中36種痕量元素的質(zhì)譜干擾、基體效應(yīng)等情況進(jìn)行分析。
2023/05/06 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
對(duì)于模擬CMOS(互補(bǔ)對(duì)稱(chēng)金屬氧化物半導(dǎo)體)而言,兩大主要危害是靜電和過(guò)壓(信號(hào)電壓超過(guò)電源電壓)。了解這兩大危害,用戶(hù)便可以有效應(yīng)對(duì)。
2023/05/07 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
中國(guó)科學(xué)院微電子研究所微電子器件與集成技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室劉明院士團(tuán)隊(duì)從理論方面提出了載流子的“集體輸運(yùn)效應(yīng)”(collective transport)的物理機(jī)制。
2023/05/11 更新 分類(lèi):行業(yè)研究 分享
量子計(jì)算提供了一系列工具和解決方案,可以推動(dòng)半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展。其中包括提高芯片安全性、加快新材料的發(fā)現(xiàn)、優(yōu)化芯片設(shè)計(jì)和模擬量子效應(yīng)。
2023/12/14 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享