您當前的位置：檢測預警 > 欄目首頁
本文介紹了冷作模具的失效形式及失效分析實例
2019/08/07 更新 分類：檢測案例 分享
隨著科學技術的發(fā)展和進步，元器件國產化占比隨之增高。然而國產元器件在工程應用中也暴露出諸多問題，特別是在元器件的質量問題及可靠性方面，電子元器件的可靠性是其最基礎和核心的標準，對于電子設備產品質量有直接影響。
2021/04/07 更新 分類：生產品管 分享
故障是系統(tǒng)不能執(zhí)行規(guī)定功能的狀態(tài)。通常而言，故障是指系統(tǒng)中部分元器件功能失效而導致整個系統(tǒng)功能惡化的事件。設備的故障一般具有五個基本特征：層次性、傳播性、放射性、延時性、不確定性等。
2020/09/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享
自然界中充斥著靜電。對于集成電路行業(yè)，每一顆芯片從最開始的生產制造過程、封裝過程、測試過程、運輸過程到最終的元器件的焊接、組裝、使用過程，幾乎時刻都伴隨著靜電，在任何一個環(huán)節(jié)靜電都有可能對芯片造成損傷。
2022/07/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本項試驗的目的測定元器件和材料在氣壓減小時，由于空氣和其他絕緣材料的絕緣強度減弱抗電擊穿失效的能力。
2019/07/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享
環(huán)境應力篩選(Environmental Stress Screening)，簡稱ESS，是為發(fā)現和排除產品中不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現早期失效，在環(huán)境應力下所做的一系列試驗。
2017/06/23 更新 分類：法規(guī)標準 分享
電阻器、電容器、電感器、變壓器的檢測方法與經驗
2019/03/11 更新 分類：法規(guī)標準 分享
本文介紹了可靠性預計的定義、可靠性預計的目的及常用預計方法等內容。
2023/06/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享
環(huán)境應力篩選( environmental stress screening（ESS）)為發(fā)現和排除產品中不良零件、元器件、工藝缺陷和防止出現早期失效，在環(huán)境應力下所做的一系列試驗。環(huán)境應力的確定方法
2019/10/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了LED芯片失效和封裝失效的原因分析。
2021/10/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
關于我們 聯系我們 營業(yè)執(zhí)照 全國服務電話：400-818-0021 嘉峪檢測版權所有 備案號：京ICP備14047019號-2 
京公網安備11010802046783號
