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本文主要介紹了元器件存儲，元器件儲存環(huán)境及元器件儲存失效機理。

2021/12/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享

這里說說自己對元器件失效率“量化”的一點認識。

2024/06/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要紹了各類元器件失效機理。

2022/02/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電子元器件失效率計算方法。

2025/10/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

元件的失效直接受濕度、溫度、電壓、機械等因素的影響。本文將討論失效機理。

2020/09/01 更新 分類：科研開發(fā) 分享

電子元器件失效模式和機理對照表

2017/08/23 更新 分類：法規(guī)標準 分享

本文介紹了元器件失效后從哪些方面去排查故障問題。

2024/04/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享

失效分析是對電子元器件失效機理、原因的診斷過程，是提高電子元器件可靠性的必由之路。

2017/10/12 更新 分類：法規(guī)標準 分享

本文對于典型電子元器件的耐受環(huán)境極限進行分析，研究表明，電子設(shè)備對于熱環(huán)境及沖擊、振動環(huán)境比較敏感，易發(fā)生焊點失效及其他結(jié)構(gòu)失效。

2020/03/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機理，找出失效原因，反饋給設(shè)計、制造和使用，共同研究和實施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。

2017/05/17 更新 分類：法規(guī)標準 分享