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電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術和分析程序確認電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機理,確認最終的失效原因,提出改進設計和制造工藝的建議,防止失效的重復出現(xiàn),提高元器件可靠性。
2015/10/23 更新 分類:實驗管理 分享
本文介紹了電子元器件失效分析(FA),破壞性物理分析(DPA),其他人為因素造成的失效。
2021/05/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件在使用過程中,常常會出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障,從而影響設備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。
2020/10/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
今天接著分享點電子元器件失效模式和所有失效模式的分布比例
2019/09/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了極限應力的失效及電源浪涌電壓引起的失效、傳輸線浪涌電壓的失效、極限應力退化失效、臨界極限應力的四大失效案例。
2021/05/12 更新 分類:檢測案例 分享
本文主要介紹了元器件失效都有哪些,在安排測試篩選先后次序時的方案,決定元器件測試篩選先后次序的原則,篩選方案的設計原則,元器件篩選方案的制訂原則及幾種常用的篩選項目。
2022/02/09 更新 分類:科研開發(fā) 分享
必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機理,找出失效原因,反饋給設計、制造和使用,共同研究和實施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。
2015/12/04 更新 分類:實驗管理 分享
本文主要介紹了常用的電子元器件失效機理與故障分析。
2021/12/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了電子元器件潮敏失效機理與潮敏防護。
2024/12/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對航天電子元器件的失效模式及失效機理進行了研究,并給出其敏感環(huán)境,對于電子產(chǎn)品的設計提供一定的參考。
2021/12/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享