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電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個(gè)非常麻煩的事情，比如某個(gè)半導(dǎo)體器件外表完好但實(shí)際上已經(jīng)半失效或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間，有時(shí)甚至炸機(jī)。

2017/11/01 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

電子元器件失效率模型速查表（基于MIL-HDBK-217F）

2025/11/06 更新 分類：檢測機(jī)構(gòu) 分享

可靠性工作的目的不僅是為了了解、評價(jià)電子元器件的可靠性水平，更重要的是要改進(jìn)、提高電子元器件的可靠性。

2016/04/18 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

為了保證整批元器件的可靠性，滿足整機(jī)要求，必須把使用條件下可能出現(xiàn)初期失效的元器件剔除。

2020/02/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享

降額設(shè)計(jì)的定義：設(shè)計(jì)時(shí)元器件或設(shè)備工作時(shí)承受的工作應(yīng)力適當(dāng)?shù)陀谠骷蛘咴O(shè)備規(guī)定的額定值，從而達(dá)到降低基本失效率，提高使用可靠性的目的。

2023/10/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文從實(shí)際產(chǎn)品應(yīng)用出發(fā)，闡述了環(huán)境應(yīng)力篩選中各失效（機(jī)械應(yīng)力失效及熱應(yīng)力失效）的作用機(jī)理及實(shí)例分析，并結(jié)合失效實(shí)例給出通用的問題處理方案。

2019/11/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹了元器件失效類型，老化篩選的作用和內(nèi)容及老化篩條件和方法。

2022/02/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了電子可靠性設(shè)計(jì)原則、規(guī)范、可靠性測試、元器件選型及元器件失效機(jī)理與分析方法。

2023/05/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享

失效分析對產(chǎn)品的生產(chǎn)和使用都具有重要的意義，失效可能發(fā)生在產(chǎn)品壽命周期的各個(gè)階段，發(fā)生在產(chǎn)品研制階段、生產(chǎn)階段到使用階段的各個(gè)環(huán)節(jié)，通過分析工藝廢次品、早期失效、試驗(yàn)失效、中試失效以及現(xiàn)場失效的失效產(chǎn)品明確失效模式、分析失效機(jī)理，最終明確失效原因。

2015/10/23 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

本文主要探討了電子產(chǎn)品的硬件損傷故障中，與器件物料相關(guān)的六大隱患，及其排查其中隨機(jī)性小概率問題的統(tǒng)計(jì)性實(shí)驗(yàn)方法。

2025/11/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享