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本文主要介紹了:安全標(biāo)準(zhǔn)所涉及的主要關(guān)鍵元器件,關(guān)鍵元器件的選用原則及通用要求及關(guān)鍵元器件分類介紹及適用標(biāo)準(zhǔn)。
2022/02/08 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文詳細(xì)介紹了單板與元器件的環(huán)境差異、元器件可靠性需求分析、板級(jí)元器件可靠性保障等內(nèi)容。
2025/06/09 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
39種電子元器件檢測(cè)要求與方法
2017/08/28 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
光電子元器件物理特性測(cè)試項(xiàng)目,光電子元器件機(jī)械完整性試驗(yàn),光電子元器件加速老化試驗(yàn)
2020/07/24 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了最容易引發(fā)電路故障的元器件。
2020/10/14 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了元器件貯存期的定義和計(jì)算規(guī)則。
2021/12/28 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了電子元器件鍍層的種類與檢驗(yàn)方法。
2023/10/26 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了各種電子元器件損壞后的現(xiàn)象。
2023/12/23 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了假冒偽劣元器件的部分檢查方法。
2024/03/05 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了元器件損壞后的問(wèn)題排查路徑。
2024/04/07 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享