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近日,國內(nèi)一款 LED 燈具被歐盟非食品危險產(chǎn)品快速預(yù)警系統(tǒng)( RAPEX )通報,被認定為存在電擊危險,不符合低電壓指令和 EN60598 標準的相關(guān)要求,被要求召回。具體原因是燈具內(nèi)部通
2017/09/14 更新 分類:監(jiān)管召回 分享
擊穿電壓、擊穿強度和耐電壓測定目的要求、實驗原材料和儀器設(shè)備、實驗步驟
2017/10/27 更新 分類:法規(guī)標準 分享
該研究由魯汶大學的研究團隊完成,文章采用試驗和有限元仿真分析的方法分析了單向復合材料拉伸試驗中存在的應(yīng)力集中問題及其原因,并給出了減少應(yīng)力集中的措施和方法。
2024/01/31 更新 分類:科研開發(fā) 分享
在芯片失效分析領(lǐng)域,EOS(電過應(yīng)力)是一種常見的失效模式。傳統(tǒng)的EOS失效通常表現(xiàn)為電壓或電流輸入引腳的明顯燒毀痕跡,然而近期我們遇到很多特殊的案例(開蓋觀察可能的EOS引入引腳在電性測試并未檢測出來)
2025/10/19 更新 分類:檢測案例 分享
電壓擊穿指的是電介質(zhì)在足夠強的電場作用下將失去其介電性能成為導體,稱為電介質(zhì)擊穿,所對應(yīng)的電壓稱為擊穿電壓。
2016/09/21 更新 分類:法規(guī)標準 分享
闡述電壓波動和閃爍的成因、危害、基礎(chǔ)內(nèi)容與限值標準,還介紹手動開關(guān)電壓波動測試方法
2025/09/23 更新 分類:實驗管理 分享
本文主要介紹了擊穿電壓的主要影響因素有哪些
2022/05/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
高電壓下,電解液對鋁箔的腐蝕研究
2022/10/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電源端子騷擾電壓試驗項目俗稱:傳導干擾、傳導發(fā)射、傳導騷擾、電信端口發(fā)射試驗等。
2023/05/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文通過示例來看針對負電壓浪涌的對策及其效果。
2023/06/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享