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壽命試驗(yàn)是可靠性試驗(yàn)中最重要、最基本的內(nèi)容之一。它是將樣品放在特走的試驗(yàn)條件下，測(cè)量其失效（損耗）的數(shù)量隨時(shí)間的分布情況。因?yàn)槭前聪群蟠涡虺霈F(xiàn)的，所以可利用次序統(tǒng)計(jì)量理論來分析壽命試驗(yàn)數(shù)據(jù)，從而可以確定產(chǎn)品的壽命特征、失效分布規(guī)律，計(jì)算產(chǎn)品的失效率和平均壽命等可靠性指標(biāo)。此外，還可以從中確定產(chǎn)品合理的可靠性篩選工藝及條件，進(jìn)一步改

2021/01/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了可靠性試驗(yàn)所需設(shè)備，包括步入式溫濕度試驗(yàn)箱，太陽輻射箱，鹽霧試驗(yàn)箱等設(shè)備。

2021/05/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享

在競(jìng)爭(zhēng)激烈的市場(chǎng)環(huán)境中，產(chǎn)品可靠性不僅是滿足客戶期望的核心要素，更是企業(yè)品牌聲譽(yù)與長(zhǎng)期生存的基石?？煽啃孕枨笞鳛楫a(chǎn)品設(shè)計(jì)的起點(diǎn)，最終需要通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)脑囼?yàn)進(jìn)行驗(yàn)證。如何精準(zhǔn)地將這些需求轉(zhuǎn)化為科學(xué)、有效的可靠性試驗(yàn)條件，是確保產(chǎn)品在真實(shí)環(huán)境中表現(xiàn)可靠的關(guān)鍵技術(shù)環(huán)節(jié)。本文將深入探討這一轉(zhuǎn)化過程，揭示其內(nèi)在邏輯與方法體系。

2025/10/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享

可靠性測(cè)試中的HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn) HALT HASS是由美國軍方所延伸出的設(shè)計(jì)質(zhì)量驗(yàn)證與制造質(zhì)量驗(yàn)證的試驗(yàn)方法，現(xiàn)已成為美國電子業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)產(chǎn)品驗(yàn)證方法。

2015/11/26 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

產(chǎn)品可靠性的合同指標(biāo)一般包括規(guī)定值和最低可接受值。規(guī)定值是合同和研制任務(wù)書中規(guī)定的期望達(dá)到的指標(biāo)，是承制方進(jìn)行可靠性設(shè)計(jì)的依據(jù)。

2019/03/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文提出了包括內(nèi)外場(chǎng)結(jié)合法、加速可靠性試驗(yàn)法、合并試驗(yàn)剖面法等多種工程方法，來降低承研單位的可靠性驗(yàn)證費(fèi)用支出，并結(jié)合案例闡明了本文方法的有效性。

2020/02/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享

LED具有體積小，耗電量低、長(zhǎng)壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗(yàn)對(duì)LED芯片的可靠性水平進(jìn)行*價(jià)，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。

2016/04/27 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

LED具有體積小，耗電量低、長(zhǎng)壽命環(huán)保等優(yōu)點(diǎn)，在實(shí)際生產(chǎn)研發(fā)過程中，需要通過壽命試驗(yàn)對(duì)LED芯片的可靠性水平進(jìn)行評(píng)價(jià)，并通過質(zhì)量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質(zhì)量。

2020/08/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文主要介紹汽車電子設(shè)計(jì)中的DV試驗(yàn)，測(cè)試主要包括電氣負(fù)載、機(jī)械負(fù)載、溫度負(fù)載、氣候負(fù)載、化學(xué)負(fù)載、連接器、防護(hù)類、禁限用物質(zhì)、EMC等等，同時(shí)還包括DV軟件。

2022/02/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享

2024/08/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享