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本文針對退針、歪針的失效，總結了以下產生原因并針對不同失效討論了對應改善對策。
2025/03/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文針對一種金屬氣密封裝的混合集成電路在應用于某彈載高發(fā)射過載沖擊環(huán)境時出現(xiàn)的功能失效現(xiàn)象，進行了機理分析、仿真驗證，并且給出了改進措施。
2022/02/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享
電子器件失效分析-本文將通過專業(yè)且易懂的解析，帶大家認識接插件的基本特性、核心失效模式，結合真實案例拆解分析邏輯，并給出全生命周期防護建議，幫助讀者理解“小部件”背后的“大可靠性”邏輯。連接器/接插件
2025/12/17 更新 分類：檢測案例 分享
本文系統(tǒng)性地闡述了晶體管的主要失效模式及其物理機制，深入分析了在消費類電子產品嚴苛應用環(huán)境下引發(fā)的典型問題，并構建了一套從失效分析到有效整改的工程方法論。
2026/01/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享
PFMEA是過程失效模式及后果分析(Process Failure Mode andEffects Analysis)的英文簡稱，是由負責制造/裝配的工程師/小組主要采用的一種分析技術，用以最大限度地保證各種潛在的失效模式及其相關的起因/機理已得到充分的考慮和論述。
2016/06/15 更新 分類：實驗管理 分享
本文針對某汽車 35CrMo 材料螺栓套在路試中提前斷裂的問題展開研究，通過斷口、能譜、金相及硬度檢測，確定失效模式為延遲性開裂，主因是不當焊接工藝使螺栓套熱影響區(qū)形成中碳馬氏體、硬度偏高（570-600HV）。
2025/09/03 更新 分類：檢測案例 分享
通過失效分析一系列分析驗證手段，可以查找其失效的根本原因及機理，其在提高產品質量、工藝改進及責任仲裁等方面具有重要意義。
2017/05/17 更新 分類：法規(guī)標準 分享
常用電路保護器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TVS)亦不例外。TVS一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會將保護的電子設備損壞．這是TVS生產廠家和使用方都想極力減少或避免的情況。
2020/09/03 更新 分類：檢測案例 分享
本文對列車上實際使用發(fā)生失效的繼電器進行宏觀及微觀的分析，確定其失效模式及其失效的機理。同時對繼電器進行可靠性評估，可靠性試驗過程中定期檢測樣品的各項電性能參數(shù)，評估各電性能參數(shù)的變化情況，確定繼電器的可靠性等級，同時在各個參數(shù)的合理使用范圍內，評估繼電器的剩余使用壽命。
2022/05/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享
電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。對于硬件工程師來講電子元器件失效是個非常麻煩的事情，比如某個半導體器件外表完好但實際上已經半失效或者全失效會在硬件電路調試上花費大把的時間，有時甚至炸機。
2017/11/01 更新 分類：實驗管理 分享
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