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本文介紹了如何運用FTA進行定性/定量的失效分析。
2024/01/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了如何使用強度--應(yīng)力干涉模型計算失效概率。
2024/04/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享
這里說說自己對元器件失效率“量化”的一點認識。
2024/06/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享
筆者探究了現(xiàn)有失效分析體系存在的問題，以促進其完善和發(fā)展。
2025/03/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了Test escape常見的失效原因及Test escape常見的失效原因。
2025/04/13 更新 分類：檢測案例 分享
本文介紹了屏蔽罩失效分析與整改案例。
2025/04/15 更新 分類：檢測案例 分享
封裝劃片引起的失效分析。
2025/07/24 更新 分類：檢測案例 分享
MOSFET溫度循環(huán)后芯片表面開裂失效分析。
2025/07/27 更新 分類：檢測案例 分享
潮濕敏感器件（MSD）的失效機理與常見原因。
2025/08/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享
托盤抗靜電性能失效分析案例。
2025/09/13 更新 分類：檢測案例 分享
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