您當(dāng)前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
在過去的幾十年里,X射線檢查技術(shù)取得了長足的進(jìn)步。自20世紀(jì)70年代問世以來,x射線計算機(jī)斷層掃描(CT掃描)已經(jīng)徹底改變了醫(yī)學(xué)診斷實踐。
2023/11/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
研究人員闡明了X射線應(yīng)力誤差的概念,分析了誤差的主要來源;介紹了應(yīng)力測量不確定度的評定方法,說明了GB/T 7704—2017中不確定度計算公式的來歷;解析了X射線應(yīng)力測量不確定度的來源及對策。
2025/02/18 更新 分類:科研開發(fā) 分享
當(dāng)物體中存在缺陷時,由于缺陷部位的厚度和密度發(fā)生變化,穿過無缺陷完好部位和有缺陷部位的射線強(qiáng)度不同,因而使膠片的感光程度不同,膠片處理后,就形成了黑白不同的影像。
2017/09/06 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文介紹了淺表面微觀分析技術(shù):X射線光電子能譜(XPS)的技術(shù)原理及應(yīng)用案例。
2022/05/21 更新 分類:科研開發(fā) 分享
來自邯鄲市愛斯特應(yīng)力技術(shù)有限公司的呂克茂、程時美兩位研究人員通過具體實例說明了X射線應(yīng)力測定方法的準(zhǔn)確性,并提出了測定設(shè)備的檢定方法。
2023/05/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
X射線光電子能譜法(X-ray photoelectron spectroscopy,XPS)屬于侵入式分析技術(shù),用來確定樣品中化學(xué)元素的氧化狀態(tài)。
2024/03/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享
研究X射線輻照對CTF的影響,探索有效的防護(hù)措施,對于保障芯片的可靠性和數(shù)據(jù)完整性具有重要意義。
2025/02/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
X射線衍射分析技術(shù)是一種十分有效的材料分析方法,在眾多領(lǐng)域的研究和生產(chǎn)中被廣泛應(yīng)用。本文介紹了X射線衍射的基本原理,從物相鑒定、點陣參數(shù)測定、微觀應(yīng)力測定等幾方面概述了X射線衍射技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用。
2016/01/06 更新 分類:實驗管理 分享
X射線衍射儀技術(shù)(X-raydiffraction,XRD)。利用X射線在晶體中的衍射現(xiàn)象來獲得衍射后X射線信號特征,經(jīng)過處理得到衍射圖譜。分析其衍射圖譜,獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。
2018/06/12 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
內(nèi)容包括射線參考底片、射線(中子、X、伽馬)檢測、數(shù)字射線、聲發(fā)射檢測、滲透檢測、磁粉檢測、電磁檢測、泄露檢測和超聲檢測等內(nèi)容。
2019/11/25 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享