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建立電感耦合等離子體質(zhì)譜（ICP-MS）法半定量掃描、全定量測定藥用輔料蔗糖中元素。

2025/03/26 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了基于聲學(xué)顯微C掃描檢測技術(shù)的倒裝集成電路失效分析。

2025/04/28 更新 分類：檢測案例 分享

注冊設(shè)備中包含一個單機(jī)軟件需要做漏洞掃描嗎？

2025/06/10 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

本文將詳細(xì)討論在TEM樣品制備中如何選擇恰當(dāng)?shù)妮d網(wǎng)。

2024/11/04 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

【引言】 納米粒子和溶劑之間的相互作用，對于形成復(fù)亞穩(wěn)態(tài)納米結(jié)構(gòu)非常重要。但是采用傳統(tǒng)的液體電池透射電子顯微鏡（TEM），直接觀察是非常困難的。那么如何才能觀察到納米粒

2018/06/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文對一批產(chǎn)品軟板上SMT元件焊接后易脫落，不良率約為3.3%，PCB焊盤上的斷裂面在電子顯微鏡下觀察，表現(xiàn)為平整的斷裂面的案例進(jìn)行了解析。

2021/05/26 更新 分類：檢測案例 分享

電子顯微鏡（EM）的重要性不言而喻，但是想要適得其用卻并不容易。本文從樣品的制備、載網(wǎng)的選擇，到儀器的操作與使用，再到圖像和數(shù)據(jù)的分析進(jìn)行介紹。

2023/10/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享

研究人員利用高分辨透射電子顯微鏡和能譜儀對Zirlo合金和M5合金進(jìn)行了微觀組織和微區(qū)成分分析，結(jié)果對將來更好地研發(fā)和應(yīng)用鋯合金具有重要意義。

2024/07/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享

透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。

2020/09/25 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

CT掃描技術(shù)廣泛應(yīng)用于汽車、金屬材料、模具、逆向工程、尺寸測量、塑膠材料、鐵路、電子電器、醫(yī)療器械、航空航天、科研院所、軍工國防等領(lǐng)域。

2016/07/08 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享