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能譜儀的掃描方式有三種,點(diǎn)分析、線分析和面分析。
2020/05/13 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
本次分享的案例中主要關(guān)注引線框架表面的氧化狀態(tài)。
2023/06/07 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
德國(guó)維爾茨堡大學(xué)的研究人員開(kāi)發(fā)一種新型的便攜式掃描儀(iMPI),這種便攜式掃描儀(iMPI)采用磁粒子成像(MPI)技術(shù)。
2023/08/16 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
研究了襯底對(duì)粉末試樣能譜分析結(jié)果的影響,并得到了試樣清晰的面掃描譜圖。結(jié)果可為快速選擇合適的襯底、獲得理想的面掃描譜圖提供理論基礎(chǔ)。
2023/08/18 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
聚焦離子束技術(shù)(Focused Ion beam,F(xiàn)IB)是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺寸的離子束轟擊材料表面,實(shí)現(xiàn)材料的剝離、沉積、注入、切割和改性。
2023/09/13 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
研究人員對(duì)JSM 6360型掃描電鏡近幾年出現(xiàn)的幾類典型故障及排除方法進(jìn)行了詳細(xì)分析和描述,以供同行交流。
2024/10/25 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
建立電感耦合等離子體質(zhì)譜(ICP-MS)法半定量掃描、全定量測(cè)定藥用輔料蔗糖中元素。
2025/03/26 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了基于聲學(xué)顯微C掃描檢測(cè)技術(shù)的倒裝集成電路失效分析。
2025/04/28 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
注冊(cè)設(shè)備中包含一個(gè)單機(jī)軟件需要做漏洞掃描嗎?
2025/06/10 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文對(duì)一批產(chǎn)品軟板上SMT元件焊接后易脫落,不良率約為3.3%,PCB焊盤(pán)上的斷裂面在電子顯微鏡下觀察,表現(xiàn)為平整的斷裂面的案例進(jìn)行了解析。
2021/05/26 更新 分類:檢測(cè)案例 分享