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在實(shí)際高分辨電子顯微鏡像的觀察中,除物鏡的襯度傳遞函數(shù)外,入射電子的能量變化、色差以及試樣上入射電子的會(huì)聚角等都會(huì)引起分辨率下降。
2021/04/09 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文將對(duì)透射電鏡常見(jiàn)的各種制樣方法進(jìn)行介紹與對(duì)比。
2023/06/26 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
醫(yī)療器械材料在設(shè)計(jì)和服役的各個(gè)階段都要進(jìn)行分析,從最初的模型材料制造和研發(fā),到從患者身上取出后對(duì)器械或周圍組織進(jìn)行檢驗(yàn)。
2019/12/23 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
研究人員詳細(xì)介紹了一種通過(guò)一次離子減薄就能制備多個(gè)TEM截面樣品的方法,該方法極大地提高了TEM制樣的效率,同時(shí)避免了分批制樣帶來(lái)的隨機(jī)誤差。
2023/11/21 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
研究人員利用電解雙噴儀和場(chǎng)發(fā)射透射電鏡,設(shè)計(jì)了透射電鏡的試樣制備工藝試驗(yàn),分析了電解雙噴試驗(yàn)工藝參數(shù)對(duì)制樣結(jié)果的影響,以縮短試驗(yàn)周期和提高測(cè)試效率。
2024/07/15 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
電子掃描顯微鏡在材料檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用
2018/12/20 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
掃描電鏡主要由七大系統(tǒng)組成,即電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)探測(cè)處理和顯示系統(tǒng)、圖像記錄系統(tǒng)、樣品室、真空系統(tǒng)、冷卻循環(huán)水系統(tǒng)、電源供給系統(tǒng)。
2019/09/11 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
掃描電子顯微鏡是光子晶體研究中不可缺少的分析儀器,主要用于:原材料的篩選(顆粒尺寸范圍,顆粒尺寸統(tǒng)計(jì),快速篩樣)和組裝過(guò)程分析
2019/09/16 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
位錯(cuò)對(duì)材料性能非常重要。本文提出一種特制的掃描電子顯微鏡裝置,對(duì)雙層石墨烯中的位錯(cuò)成像,并同時(shí)在納米尺度原位操縱位錯(cuò),可以直接揭示線張力、位錯(cuò)相互作用、節(jié)點(diǎn)形成等位錯(cuò)的基本特性。
2021/02/10 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
作為材料科學(xué)最強(qiáng)大的研究工具之一,掃描電子顯微鏡(Scanning Electron Microscope, SEM)能夠以極高的分辨率觀察樣品表面的形態(tài)和結(jié)構(gòu),它的應(yīng)用范圍非常廣泛。
2025/07/27 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享