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【引言】 納米粒子和溶劑之間的相互作用,對(duì)于形成復(fù)亞穩(wěn)態(tài)納米結(jié)構(gòu)非常重要。但是采用傳統(tǒng)的液體電池透射電子顯微鏡(TEM),直接觀察是非常困難的。那么如何才能觀察到納米粒
2018/06/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
研究人員利用高分辨透射電子顯微鏡和能譜儀對(duì)Zirlo合金和M5合金進(jìn)行了微觀組織和微區(qū)成分分析,結(jié)果對(duì)將來更好地研發(fā)和應(yīng)用鋯合金具有重要意義。
2024/07/30 更新 分類:科研開發(fā) 分享
掃描電子顯微鏡(SEM)之樣品制備
2017/09/25 更新 分類:熱點(diǎn)事件 分享
近年來納米材料領(lǐng)域應(yīng)用的高端透射電鏡技術(shù),并通過實(shí)例了解這些高端透射電鏡技術(shù)是如何助力納米材料發(fā)展的,主要包括高分辨透射技術(shù)、原位電鏡技術(shù)、低溫冷凍電鏡、球差電鏡。
2021/03/29 更新 分類:科研開發(fā) 分享
透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope, 簡稱TEM),是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上,電子與樣品中的原子碰撞而改變方向,從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān),因此可以形成明暗不同的影像,影像在放大、聚焦后在成像器件(如熒光屏,膠片以及感光耦合組件)上顯示出來的顯微鏡。
2020/09/25 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
盤點(diǎn)9種掃描電子顯微鏡的技術(shù)。
2021/03/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享
雙束聚焦離子束-掃描電鏡技術(shù)(Duel Beam Focused Ion Beam,FIB)具有諸多高端優(yōu)勢(shì)和較強(qiáng)的應(yīng)用能力,是新材料開發(fā)中高分辨率表征的重要方法。常用的應(yīng)用之一是制備透射電鏡(TEM)樣品。
2023/01/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了一種基于聚焦離子束的石英玻璃平面透射電鏡試樣制備方法。
2023/03/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
透射電鏡用載網(wǎng)及載網(wǎng)膜有不同的種類,使用時(shí)需要根據(jù)樣品及觀察目的選擇合適的載網(wǎng)膜,才能有效地觀察到樣品的結(jié)構(gòu)。
2024/06/14 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了高分辨透射電鏡粉末樣品制備技術(shù)。
2024/11/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享