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  • 投射電子顯微鏡樣品制備中載網(wǎng)的選擇技巧

    本文將詳細(xì)討論在TEM樣品制備中如何選擇恰當(dāng)?shù)妮d網(wǎng)。

    2024/11/04 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 原位TEM直接觀測液態(tài)鋰-空氣電池放電過程

    近期,韓國首爾基礎(chǔ)科學(xué)研究所在原位透射電鏡下構(gòu)建了包括放電介質(zhì)DBBQ和O2在內(nèi)的液態(tài)鋰空氣電池體系,并對其放電過程進(jìn)行了直接觀察。

    2023/07/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 鋅鋁鎂鍍層鋼板耐腐蝕性能研究

    本文采用掃描電子顯微鏡等設(shè)備對鋅鋁鎂鍍層和純鋅鍍層鋼板的耐腐蝕性能進(jìn)行了對比研究。

    2022/08/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)、原理、應(yīng)用及46個(gè)知識點(diǎn)匯總

    掃描電子顯微鏡,是自上世紀(jì)60年代作為商用電鏡面世以來迅速發(fā)展起來的一種新型的電子光學(xué)儀器,被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。

    2020/10/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 十大PCB失效分析技術(shù)(附案例分析)

    本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù):外觀檢查;X射線透視檢查;切片分析;掃描聲學(xué)顯微鏡;顯微紅外分析;掃描電子顯微鏡分析;X射線能譜分析;光電子能譜(XPS)分析;熱分析差示掃描量熱法及熱機(jī)械分析儀(TMA),并附了案例分析。

    2021/07/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 全方位認(rèn)識掃描電子顯微鏡

    掃描電子顯微鏡,是自上世紀(jì)60年代作為商用電鏡面世以來迅速發(fā)展起來的一種新型的電子光學(xué)儀器,被廣泛地應(yīng)用于化學(xué)、生物、醫(yī)學(xué)、冶金、材料、半導(dǎo)體制造、微電路檢查等各個(gè)研究領(lǐng)域和工業(yè)部門。

    2017/03/06 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • TEM在晶體結(jié)構(gòu)分析中的三大應(yīng)用

    相對于 X-射線,電子束由于具有更短的波長以及更強(qiáng)的衍射,因此電子衍射應(yīng)用于納米晶體的結(jié)構(gòu)分析具有特別的意義,透射電鏡不僅可對納米晶體進(jìn)行高分辨成像而且可進(jìn)行電子衍射分析,已成為納米晶體材料不可或缺的研究方法,包括判斷納米結(jié)構(gòu)的生長方向、解析納米晶體的晶胞參數(shù)及原子的排列結(jié)構(gòu)等。

    2021/02/01 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 齒圈螺栓斷裂失效分析案例分享

    通過化學(xué)成分、金相檢驗(yàn)和掃描電子顯微鏡等方法對齒圈螺栓進(jìn)行分析,結(jié)果表明:齒圈螺栓斷裂是由于氫脆延遲斷裂而造成的。針對斷裂原因分析了氫脆產(chǎn)生的原因和采取預(yù)防措施。

    2021/10/12 更新 分類:檢測案例 分享

  • 硅基低壓MOSFET器件漏電失效分析

    本文通過采用熱點(diǎn)分析和聚焦離子束-掃描電子顯微鏡(FIB-SEM)技術(shù),提出了一種高效的檢測手段,用以快速識別和分析溝槽MOSFET器件在電學(xué)性能和膜層結(jié)構(gòu)上的失效。

    2024/08/21 更新 分類:檢測案例 分享

  • 掃描電子顯微鏡之植物組織的叔丁醇干燥法

    利用掃描電子顯微鏡觀測植物組織表面形貌時(shí),需要先對植物組織進(jìn)行干燥處理,其中對于大多數(shù)組織而言,叔丁醇干燥法和臨界點(diǎn)干燥法在保存組織形態(tài)的真實(shí)完整性方面較其他方法存在明顯優(yōu)勢。

    2025/03/19 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享