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降額等級描述，電阻器降額規(guī)范，

2021/06/11 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了電磁兼容整改器件TVS如何選型。

2022/09/20 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了可靠性預(yù)計的定義、可靠性預(yù)計的目的及常用預(yù)計方法等內(nèi)容。

2023/06/22 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了芯片核心七大關(guān)鍵器件。

2024/10/07 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了DC-DC電路設(shè)計技巧及器件選型。

2024/10/16 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文對鋁應(yīng)力遷移模型進(jìn)行研究

2024/11/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文對錫須生長模型進(jìn)行研究

2024/11/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文介紹了硅光芯片原理及器件技術(shù)。

2025/02/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享

必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作，通過分析確定失效機(jī)理，找出失效原因，反饋給設(shè)計、制造和使用，共同研究和實(shí)施糾正措施，提高電子元器件的可靠性。

2015/12/04 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

案例1：大電流導(dǎo)致器件金屬融化 某產(chǎn)品在用戶現(xiàn)場頻頻出現(xiàn)損壞，經(jīng)過對返修單板進(jìn)行分析，發(fā)現(xiàn)大部分返修單板均是某接口器件失效，對器件進(jìn)行解剖后，在金相顯微鏡下觀察，發(fā)

2016/01/25 更新 分類：檢測案例 分享