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盤點(diǎn)9種掃描電子顯微鏡的技術(shù)。

2021/03/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

低溫電子顯微技術(shù)(CRYO-ELECTRON MICROSCOPY)的出來，引爆了揭示細(xì)胞內(nèi)隱秘機(jī)制的革命，X射線晶體衍射技術(shù)(X-RAY CRYSTALLOGRAPHY)即將成為歷史。 劍橋大學(xué)地下室 一場(chǎng)技術(shù)革命正在醞釀。 一個(gè)

2015/10/22 更新 分類：其他 分享

國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織（ISO）最近發(fā)布了一項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)，該標(biāo)準(zhǔn)為納米技術(shù)領(lǐng)域提供了重要的指南，特別是在掃描電子顯微鏡（SEMs）的使用方面：ISO 19749:2021《納米技術(shù)——通過掃描電子顯微鏡測(cè)量顆粒大小和形狀分布》。

2021/08/10 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

本文將詳細(xì)介紹掃描電子顯微鏡的工作原理、結(jié)構(gòu)組成、技術(shù)優(yōu)勢(shì)及其在科研和工業(yè)中的應(yīng)用。

2024/09/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

透射電子顯微鏡（TEM）表征物質(zhì)結(jié)構(gòu)

2017/08/16 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

掃描電子顯微鏡（SEM）之樣品制備

2017/09/25 更新 分類：熱點(diǎn)事件 分享

本文介紹了透射電子顯微鏡TEM之樣品制備方法。

2023/05/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文通過采用熱點(diǎn)分析和聚焦離子束-掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）技術(shù)，提出了一種高效的檢測(cè)手段，用以快速識(shí)別和分析溝槽MOSFET器件在電學(xué)性能和膜層結(jié)構(gòu)上的失效。

2024/08/21 更新 分類：檢測(cè)案例 分享

本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù):外觀檢查;X射線透視檢查;切片分析;掃描聲學(xué)顯微鏡;顯微紅外分析;掃描電子顯微鏡分析;X射線能譜分析;光電子能譜（XPS）分析；熱分析差示掃描量熱法及熱機(jī)械分析儀（TMA），并附了案例分析。

2021/07/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享

是誰(shuí)總結(jié)了這46個(gè)電鏡知識(shí)點(diǎn)，太棒了！

2018/12/24 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享