您當(dāng)前的位置:檢測(cè)預(yù)警 > 欄目首頁(yè)
TEM分析中電子衍射花樣的標(biāo)定原理:電子衍射的原理
2022/12/15 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹TEM衍射花樣的標(biāo)定原理:復(fù)雜電子衍射花樣。
2021/02/01 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享
本文介紹了背散射電子衍射(EBSD)形成原理及應(yīng)用。
2024/02/20 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了分析TEM復(fù)雜電子衍射花樣中的標(biāo)定原理。
2023/10/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
一、 電子衍射物相分析與X射線(xiàn)衍射 X 射線(xiàn)衍射一直是物相分析的主要手段,但電子衍射的應(yīng)用日益增多,與X射線(xiàn)物相分析相輔相成。首先電子衍射 物相分析 靈敏度非常高,就連一個(gè)
2021/01/24 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
相對(duì)于 X-射線(xiàn),電子束由于具有更短的波長(zhǎng)以及更強(qiáng)的衍射,因此電子衍射應(yīng)用于納米晶體的結(jié)構(gòu)分析具有特別的意義,透射電鏡不僅可對(duì)納米晶體進(jìn)行高分辨成像而且可進(jìn)行電子衍射分析,已成為納米晶體材料不可或缺的研究方法,包括判斷納米結(jié)構(gòu)的生長(zhǎng)方向、解析納米晶體的晶胞參數(shù)及原子的排列結(jié)構(gòu)等。
2021/02/01 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
黃曉旭團(tuán)隊(duì)經(jīng)過(guò)十多年的不懈努力,在國(guó)家重點(diǎn)研發(fā)計(jì)劃等項(xiàng)目的支持下,成功開(kāi)發(fā)了一系列基于電子衍射的三維透射電鏡技術(shù),空間分辨率1nm。
2023/12/04 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
MicroED技術(shù)僅需少量樣品(~100mg)培養(yǎng)出納米晶體,從而獲得高質(zhì)量的衍射數(shù)據(jù),大大降低了單晶培養(yǎng)過(guò)程對(duì)樣品數(shù)量的需求,非常契合一些樣品量很少的合成藥物或天然產(chǎn)物,為合成藥物和天然產(chǎn)物的結(jié)構(gòu)解析提供了新的途徑。
2021/05/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享
研究人員對(duì)火災(zāi)事故現(xiàn)場(chǎng)普遍存在的典型火焰熔痕、一次短路熔痕及二次短路熔痕的晶粒形態(tài)和織構(gòu)進(jìn)行研究,采用EBSD技術(shù)對(duì)不同熔痕織構(gòu)進(jìn)行分析,為導(dǎo)線(xiàn)火災(zāi)熔痕的鑒定提供了一條新思路。
2024/08/02 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享