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本文通過故障樹分析方法,使用適合SiP產(chǎn)品形態(tài)的失效分析手段,討論常見的管芯失效機理以及相應(yīng)失效現(xiàn)象,并從設(shè)計和工藝角度提出降低各種失效機理發(fā)生的改進措施,作為SiP組件的可靠設(shè)計和生產(chǎn)的參考。
2022/02/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
產(chǎn)品出現(xiàn)早期失效,或安裝后上電不正常,或運行幾個月就失效。從時間角度看,屬于早期失效。通過分析,是芯片失效,在邊沿出現(xiàn)了裂紋,擴展到有源區(qū)造成功能失效。
2024/04/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進設(shè)計和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。
2015/10/23 更新 分類:實驗管理 分享
通過對PCB及PCBA的失效現(xiàn)象進行失效分析,通過一系列分析驗證,找出失效原因,挖掘失效機理,對提高產(chǎn)品質(zhì)量,改進生產(chǎn)工藝,仲裁失效事故有重要意義。
2016/08/28 更新 分類:實驗管理 分享
電阻器常見的失效模式與失效機理
2016/09/22 更新 分類:生產(chǎn)品管 分享
鋼中化學(xué)成分與雜質(zhì)分布的不均勻現(xiàn)象,稱為偏析。一般將高于平均成分者,稱為正偏析,低于平均成分者,稱為負(fù)偏析
2018/08/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
在人類歷史的發(fā)展長河中,人們對產(chǎn)品失效的認(rèn)識可以追溯到遠(yuǎn)古時代,可以說人類的生產(chǎn)實踐就是人們不斷與產(chǎn)品失效做斗爭的歷史,失效分析也長期作為零星、分散、宏觀的經(jīng)驗世
2018/06/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
對鋰電池失效進行準(zhǔn)確診斷并探究其失效機理是鋰電池失效分析的主要任務(wù), 對鋰電池性能提升和技術(shù)發(fā)展也具有深遠(yuǎn)意義。
2019/04/23 更新 分類:檢測案例 分享
本文對典型失效模式短路、開路以及電參數(shù)漂移相應(yīng)的微觀失效機理及失效原因進行總結(jié),并提出了相應(yīng)建議和預(yù)防措施。
2021/01/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
金屬材料的失效形式及失效原因密切相關(guān),失效形式是材料失效過程的表觀特征,可以通過適當(dāng)?shù)姆绞竭M行觀察。
2021/06/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享