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  • 掃描電子顯微鏡(SEM)測(cè)試成像的原理與優(yōu)缺點(diǎn)

    在做掃描電子顯微鏡(SEM)測(cè)試時(shí),工作人員在與很多同學(xué)溝通中了解到,好多同學(xué)對(duì)SEM測(cè)試不太了解,針對(duì)此,對(duì)網(wǎng)上海量知識(shí)進(jìn)行整理,希望可以幫助到科研圈的伙伴們。

    2023/11/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 橡膠硫化測(cè)試儀(簡稱硫化儀)的作用分析

    本文重點(diǎn)介紹了橡膠硫化測(cè)試儀(簡稱硫化儀)的作用。

    2021/05/19 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • QA、IQC、SQE...這些質(zhì)量人職位簡稱別搞混了

    有的時(shí)候,認(rèn)證君在和質(zhì)量同行溝通的時(shí)候,說到職位,很多人都會(huì)發(fā)個(gè)簡稱過來。比如IQC、SQE、DQC等等,有時(shí)還容易搞混。今天,認(rèn)證君整理了質(zhì)量管理人員職位簡稱,供大家參考。

    2015/11/15 更新 分類:其他 分享

  • 掃描電鏡SEM在紡織材料研究中的應(yīng)用進(jìn)展

    摘要: 本文介紹了掃描電子顯微鏡SEM的原理和特點(diǎn),概述了其在紡織材料研究中的應(yīng)用進(jìn)展,并展望了其未來的發(fā)展及在紡織材料研究上的應(yīng)用前景。 關(guān)鍵詞:掃描電子顯微鏡;紡織

    2015/11/23 更新 分類:其他 分享

  • 射頻輻射電磁場抗擾度RS試驗(yàn)等級(jí)、設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)

    本文介紹了射頻輻射電磁場抗擾度RS試驗(yàn)等級(jí)、設(shè)備與標(biāo)準(zhǔn)。

    2024/02/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 為什么傳導(dǎo)發(fā)射電流法測(cè)試中dBμV會(huì)出現(xiàn)負(fù)數(shù)

    本文介紹了為什么傳導(dǎo)發(fā)射電流法測(cè)試中dBμV會(huì)出現(xiàn)負(fù)數(shù)。

    2025/05/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 基于多項(xiàng)式擬合的分光光度計(jì)透射比校正方法

    針對(duì)分光光度計(jì)開展誤差分析,提出一種基于多項(xiàng)式擬合的分光光度計(jì)透射比校正方法,通過對(duì)分光光度計(jì)的透射比示值誤差進(jìn)行多項(xiàng)式擬合,建立分光光度計(jì)透射比示值誤差修正模型,以實(shí)現(xiàn)分光光度計(jì)誤差校正。采用721型可見分光光度計(jì)作為被測(cè)對(duì)象進(jìn)行試驗(yàn)驗(yàn)證,結(jié)果表明,基于多項(xiàng)式擬合的分光光度計(jì)透射比校正方法能有效提升儀器透射比指標(biāo)的測(cè)試精度,將透射比示值

    2025/09/03 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 超聲檢測(cè)知識(shí)匯總

    超聲檢測(cè),英文簡稱UT(Ultrasonic Testing),它是工業(yè)上無損檢測(cè)的方法之一。

    2019/01/21 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 3D打印過渡金屬表面超鈍化膜的形成與失效機(jī)制

    近日,青島理工大學(xué)、西北工業(yè)大學(xué)以及加州大學(xué)伯克利分校等開展聯(lián)合研究,基于點(diǎn)缺陷模型(PDM)理論,采用FIB-SEM雙束系統(tǒng)和高分辨TEM對(duì)激光增材制造鎳基高溫合金表面超鈍化膜進(jìn)行觀察分析,探究了超鈍化膜的形成過程,闡明了“二次鈍化”誘導(dǎo)超鈍化膜的形成本質(zhì)(因此,二次鈍化膜即為超鈍化膜);同時(shí)基于金屬微觀組織特征及點(diǎn)缺陷模型理論,揭示了超鈍化膜的失效

    2022/06/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 電子掃描顯微鏡在材料檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用

    電子掃描顯微鏡在材料檢測(cè)領(lǐng)域的應(yīng)用

    2018/12/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享