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  • 離子束制樣條件對TEM樣品形貌的影響

    本文介紹了離子束制樣條件對TEM樣品形貌的影響。

    2024/08/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 影響掃描電鏡（SEM）的幾大要素

    掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。 掃描電鏡的優(yōu)點 ①有較高的放大倍數(shù)，20-20萬倍之間連

    2017/12/27 更新 分類：實驗管理 分享

  • 掃描電鏡SEM分辨率的影響因素

    掃描電鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質性能進行微觀成像。掃描電鏡以其特有的優(yōu)點，影響掃描電鏡（SEM）的幾大要素。

    2021/04/02 更新 分類：法規(guī)標準 分享

  • 歐盟為何要頒布ROHS指令，中國也要開始了，你怎么看？

    歐盟議會和歐盟理事會于2003年1月通過了RoHS指令，全稱是The Restriction of the use of certain Hazardous substances in Electnical and Electronic Equipment,即在電子電氣設備中限制使用某些有害物質指令

    2018/10/16 更新 分類：法規(guī)標準 分享

  • TEM分析中電子衍射花樣的標定原理：電子衍射的原理

    TEM分析中電子衍射花樣的標定原理：電子衍射的原理

    2022/12/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 視黃醇結合蛋白測定試劑盒（免疫比濁法）研發(fā)實驗要求、相關標準與主要風向

    視黃醇結合蛋白測定試劑盒（免疫比濁法）是指利用免疫比濁法（如免疫透射比濁法、膠乳增強免疫比濁法等）對人血清、血漿或尿液的視黃醇結合蛋白（Retinol-Binding Protein,下文簡稱“RBP”）進行體外定量測定的試劑盒。

    2022/12/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電子探針分析的難點解析

    電子探針（Electron Probe Microanalysis-EPMA）是在電子光學和X射線光譜學原理的基礎上發(fā)展起來的一種高效率分析儀器。主要功能是進行微區(qū)成分分析。今天我們就聊一聊電子探針的分析技術的進展及面臨的挑戰(zhàn)。

    2021/03/05 更新 分類：實驗管理 分享

  • 掃描電子顯微鏡（SEM）樣品制備要求

    掃描電子顯微鏡（SEM）之樣品制備

    2017/09/25 更新 分類：熱點事件 分享

  • 盤點9種掃描電子顯微鏡的技術

    盤點9種掃描電子顯微鏡的技術。

    2021/03/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 新型先進鎂基儲氫材料問世

    新型先進鎂基儲氫材料問世。它的合成中以Mg基儲氫材料為對象，研究了Pt納米催化劑包覆對Mg儲氫性能的影響，通過原位TEM觀察MgH2放氫過程，結合DFT理論計算，深入研究了過渡金屬納米催化劑對鎂儲氫的“氫泵”作用機理，這對先進鎂基儲氫材料的設計與制備具有重要的理論指導意義。

    2019/09/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享