您當前的位置：檢測預警 > 欄目首頁
從螺栓、螺柱斷裂類型、螺栓連接強度計算校核并結(jié)合結(jié)構(gòu)設計等方面對連接失效分析，并提出改進建議。
2025/09/09 更新 分類：檢測案例 分享
威布爾分布的參數(shù)、優(yōu)勢，及其在電子電氣、材料、機械設備等領域的失效分析與可靠性應用。
2025/09/15 更新 分類：檢測案例 分享
文章闡述緊固件失效分析五階段流程（勘察、檢驗等），并給出設計、制造等預防措施，保障機械部件安全
2025/11/11 更新 分類：檢測案例 分享
芯片爆米花效應發(fā)生機理與失效分析方法。
2025/12/17 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文將基于此異常圖片，對這一引線鍵合結(jié)構(gòu)缺陷進行專業(yè)、詳細的失效模式和機理分析。
2025/12/18 更新 分類：檢測案例 分享
應力開裂是指塑料制品在使用過程中受外界應力作用，發(fā)生提前開裂而破壞的一種復雜失效行為，與環(huán)境作用、材料特性、成型方式等多種因素有關。本文通過對一則客戶委托失效分析案例進行復盤，為大家進行制件失效分析提供切實有效的分析思路及分析方法。
2021/03/15 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文介紹了關于MLCC失效原因分析及改善措施及MLCC失效的檢測方法。
2021/10/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享
失效分析中，曾遇到過NC管腳導致的芯片失效，經(jīng)過靜電復現(xiàn)，復現(xiàn)相同的故障現(xiàn)象，因此推斷為ESD導致芯片失效。具體介紹一下這個案例.
2025/03/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文對電連接器常見的失效模式進行了分析，并針對各種失效模式提出了措施建議，對提高其可靠性具有重要意義。
2025/11/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文將從基本特性出發(fā)，拆解 MOSFET 的失效密碼，結(jié)合真實案例給出防范方案，為工程師和電子愛好者提供專業(yè)參考。
2025/11/28 更新 分類：檢測案例 分享
關于我們 聯(lián)系我們 營業(yè)執(zhí)照 全國服務電話：400-818-0021 嘉峪檢測版權(quán)所有 備案號：京ICP備14047019號-2 
京公網(wǎng)安備11010802046783號
