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從80年代開始,我國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化部門參照了美國(guó)軍用標(biāo)準(zhǔn)(MIL)體系建立了GJB體系,元器件的標(biāo)準(zhǔn)有規(guī)范、標(biāo)準(zhǔn)、指導(dǎo)性文件等三種形式。
2020/02/28 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
結(jié)構(gòu)分析是一種通過對(duì)元器件的結(jié)構(gòu)進(jìn)行一系列深入細(xì)致的分析來確定元器件的結(jié)構(gòu)是否存在潛在的失效機(jī)制的方法。
2020/05/29 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件在使用過程中,常常會(huì)出現(xiàn)失效。失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障,從而影響設(shè)備的正常工作。這里分析了常見元器件的失效原因和常見故障。
2020/10/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
電子元器件可靠性標(biāo)準(zhǔn),不僅可為L(zhǎng)ED可靠性標(biāo)準(zhǔn)的制定發(fā)揮承前啟后、繼往開來的作用,還可與已經(jīng)公布的LED標(biāo)準(zhǔn)一起成為凈化LED市場(chǎng)的法規(guī)。
2021/03/29 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
器件選型是可靠性工程師經(jīng)常要開展的工作,器件選型思考的深度和廣度,非常能考驗(yàn)可靠性工程師的功力,也暴露了你的可靠性功底。作為產(chǎn)品可靠性工程師,你應(yīng)該了解以下知識(shí),這也是提升可靠性功力的重要方面。
2021/07/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享
GJB548《微電子器件試驗(yàn)方案和程序》規(guī)定了軍用微電子器件的氣候環(huán)境試驗(yàn)、機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)、電學(xué)試驗(yàn)和檢驗(yàn)程序。
2023/07/04 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
GJB4027《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了軍用電子元器件破壞性物理分析(DPA)的通用方法。
2023/07/17 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
對(duì)于光電器件本站已經(jīng)介紹的很多了,但發(fā)現(xiàn)詢問者依然很多,考慮原因主要是搜索能力差,不會(huì)舉一反三。這次將我們?cè)卺t(yī)療器械中常見的光電器件綜述一下,希望對(duì)大家有所幫助。
2023/11/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
《半導(dǎo)體器件的失效機(jī)理和模型》將針對(duì)硅基半導(dǎo)體器件常見的失效機(jī)理展開研究。本文對(duì)FEoL階段的負(fù)偏壓溫度不穩(wěn)定性(NBTI)失效模式進(jìn)行研究
2024/10/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了光耦合器是選擇車規(guī)級(jí)光電器件AEC-Q102認(rèn)證還是功率器件AEC-Q101認(rèn)證。
2025/01/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享