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本文介紹了芯片核心七大關(guān)鍵器件。
2024/10/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了DC-DC電路設(shè)計(jì)技巧及器件選型。
2024/10/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對(duì)鋁應(yīng)力遷移模型進(jìn)行研究
2024/11/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對(duì)錫須生長(zhǎng)模型進(jìn)行研究
2024/11/25 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了硅光芯片原理及器件技術(shù)。
2025/02/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
必須重視和加快發(fā)展元器件的可靠性分析工作,通過分析確定失效機(jī)理,找出失效原因,反饋給設(shè)計(jì)、制造和使用,共同研究和實(shí)施糾正措施,提高電子元器件的可靠性。
2015/12/04 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
案例1:大電流導(dǎo)致器件金屬融化 某產(chǎn)品在用戶現(xiàn)場(chǎng)頻頻出現(xiàn)損壞,經(jīng)過對(duì)返修單板進(jìn)行分析,發(fā)現(xiàn)大部分返修單板均是某接口器件失效,對(duì)器件進(jìn)行解剖后,在金相顯微鏡下觀察,發(fā)
2016/01/25 更新 分類:檢測(cè)案例 分享
可靠性工作的目的不僅是為了了解、評(píng)價(jià)電子元器件的可靠性水平,更重要的是要改進(jìn)、提高電子元器件的可靠性。
2016/04/18 更新 分類:實(shí)驗(yàn)管理 分享
在提高元器件固有可靠性的同時(shí),還必須提高元器件的應(yīng)用可靠性。
2019/10/31 更新 分類:科研開發(fā) 分享
由于COTS器件一般為塑封的工業(yè)級(jí)或商業(yè)級(jí)器件,應(yīng)用于高可靠領(lǐng)域需要開展評(píng)估試驗(yàn),驗(yàn)證其可靠性。
2019/12/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享