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為了避免選型過(guò)程中犯過(guò)的錯(cuò)誤再犯,我們結(jié)合理論分析、實(shí)踐數(shù)據(jù)、成功經(jīng)驗(yàn)、失敗教訓(xùn)等,整理出一些器件選型規(guī)范。
2021/09/02 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文介紹了國(guó)內(nèi)外軍用元器件超期復(fù)驗(yàn)要求。
2021/09/07 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文主要介紹了半導(dǎo)體器件失效機(jī)理、 分析方法和糾正措施。
2021/11/04 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了集成電路制造階段中的靜電導(dǎo)致器件的電性不良情況。
2021/11/17 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
電子元器件在制造、運(yùn)輸、倉(cāng)儲(chǔ)、應(yīng)用端生產(chǎn)過(guò)程、工作過(guò)程中都有可能出現(xiàn)少數(shù)不良品,出現(xiàn)不同的故障現(xiàn)象。為了找出真正原因,相關(guān)工程人員要對(duì)失效樣品進(jìn)行分析。
2021/11/22 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了常用的電子元器件失效機(jī)理與故障分析。
2021/12/02 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
器件選型的思考的深度和廣度,非常能考驗(yàn)設(shè)計(jì)者的功力,同時(shí)最后也落實(shí)到產(chǎn)品的質(zhì)量水平上。
2021/12/02 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了微電子器件封裝失效機(jī)理與對(duì)策:封裝材料α射線引起的軟誤差,水汽引起的分層效應(yīng),金屬化腐蝕及鍵合引線失效。
2022/01/24 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文主要介紹了由應(yīng)用引起的各類器件失效機(jī)理分析:電熱效應(yīng)引起的失效,靜電放電引起的失效及電浪涌損傷失效。
2022/01/24 更新 分類:科研開(kāi)發(fā) 分享
本文通過(guò)案例分析解釋了濾波器件是否越多越好。
2022/03/30 更新 分類:檢測(cè)案例 分享