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  • 【醫(yī)械答疑】高頻超聲集成手術(shù)設(shè)備如何測試EMC？

    高頻超聲集成手術(shù)設(shè)備，如果既可以單獨輸出高頻或超聲能量，又可以同時輸出高頻和超聲能量，進行電磁兼容檢驗時應(yīng)如何考慮測試模式。

    2022/09/28 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 塑封器件常見失效模式及其機理分析

    集成電路塑封器件的早期失效一般由設(shè)計或工藝失誤所致，通過常規(guī)電性能檢測和篩選可判別這些失效的器件。

    2020/02/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 醫(yī)療器械合規(guī)和質(zhì)量管理：從設(shè)計開發(fā)開始

    醫(yī)療器械關(guān)系到生命和健康，既有合規(guī)要求也有質(zhì)量要求。產(chǎn)品設(shè)計與開發(fā)階段至關(guān)重要，優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品是通過科學(xué)設(shè)計實現(xiàn)的。合規(guī)和質(zhì)量的要求需要植入到設(shè)計開發(fā)過程，在產(chǎn)品孕育之初打好基礎(chǔ)。文章對設(shè)計開發(fā)和注冊過程進行研究和分析，提出將集成產(chǎn)品開發(fā)和質(zhì)量管理體系融合，厘清了設(shè)計開發(fā)評審、驗證和確認的三者關(guān)系，明確了設(shè)計開發(fā)進度、成本和質(zhì)量的主次聯(lián)系。

    2025/08/06 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 集成器件高發(fā)問題參數(shù)有哪些？

    介紹集成器件 9 類高發(fā)問題參數(shù)及影響并給出參數(shù)測試、選型與替換的注意事項。

    2025/10/27 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 基于蒙特卡洛仿真的集成電路失效率預(yù)計

    本文基于理化分析，用蒙特卡羅仿真探究集成電路失效機理及分布，為其失效率預(yù)計提供技術(shù)與方法支撐。

    2025/12/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 集成電路金屬封裝失效模式分析與糾正措施

    本文針對一種金屬氣密封裝的混合集成電路在應(yīng)用于某彈載高發(fā)射過載沖擊環(huán)境時出現(xiàn)的功能失效現(xiàn)象，進行了機理分析、仿真驗證，并且給出了改進措施。

    2022/02/18 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 失效模式和影響分析（FMEA）在原料藥工藝開發(fā)中的應(yīng)用分析

    原料藥企業(yè)推廣使用FMEA等質(zhì)量風(fēng)險管理工具，并應(yīng)用于工藝開發(fā)過程的管理，將有助于工藝的風(fēng)險控制，保障能夠持續(xù)生產(chǎn)出預(yù)期質(zhì)量的產(chǎn)品，最終實現(xiàn)企業(yè)自身發(fā)展的的同時，也能夠滿足廣大患者的臨床需求。

    2024/03/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 研發(fā)IPD流程：一次把產(chǎn)品做成功

    今天介紹一下IPD，它是一套世界級的研發(fā)流程體系，全名叫做集成產(chǎn)品開發(fā)。

    2018/04/23 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電子元器件的常見故障模式機理、影響與防護

    本文將系統(tǒng)性地探討電阻、電容、電感、半導(dǎo)體器件、集成電路及機電元件等常用電子元器件的典型故障模式、內(nèi)在機理及外部影響因素。

    2025/11/25 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 電連接器常見失效模式

    本文對電連接器常見的失效模式進行了分析，并針對各種失效模式提出了措施建議，對提高其可靠性具有重要意義。

    2025/11/04 更新 分類：科研開發(fā) 分享