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本文介紹了PEM用于集成電路失效定位的原理及案例分享.
2022/07/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文基于理化分析，用蒙特卡羅仿真探究集成電路失效機理及分布，為其失效率預(yù)計提供技術(shù)與方法支撐。
2025/12/19 更新 分類：科研開發(fā) 分享
本文詳細闡述了混合集成電路電磁干擾產(chǎn)生的原因，并結(jié)合混合集成電路的工藝特點提出了系統(tǒng)電磁兼容設(shè)計中應(yīng)注意的問 題和采取的具體措施，為提高混合集成電路的電磁兼容性奠定了基礎(chǔ)?！?/p>
2019/08/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享
電阻損壞的特點，電解電容損壞的特點，二極管、三極管等半導(dǎo)體器件損壞的特點，集成電路損壞的特點
2018/11/29 更新 分類：科研開發(fā) 分享
集成電路（IC）測試是IC產(chǎn)業(yè)鏈中重要的一環(huán)，而且是不可或缺的一環(huán)，它貫穿于從產(chǎn)品設(shè)計開始到完成加工的全過程。
2020/02/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享
集成電路產(chǎn)品EMC測試系統(tǒng)是嚴格按照IEC 61967和IEC 62132系列進行設(shè)計，整套系統(tǒng)的功能和性能不僅能夠滿足上述兩大類標準要求的測試項目。
2020/12/24 更新 分類：科研開發(fā) 分享
集成電路 (Integrated Circuit，IC)是具有一定電路功能的微型機構(gòu)單元，簡稱芯片。IC在電子信息、日常生活、航空航天、軍事等領(lǐng)域有廣泛的應(yīng)用。IC產(chǎn)業(yè)是現(xiàn)代信息社會發(fā)展的基礎(chǔ)，包括
2021/06/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享
中國工程院院刊《中國工程科學(xué)》2023年年第1期刊發(fā)有研億金新材料有限公司何金江正高級工程師研究團隊的《集成電路用高純金屬濺射靶材發(fā)展研究》一文。
2023/03/13 更新 分類：行業(yè)研究 分享
集成電路壽命評估是一門融合了材料科學(xué)、器件物理、電路設(shè)計、統(tǒng)計學(xué)和失效分析的綜合性學(xué)科。它不僅是保障電子產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，也是推動IC技術(shù)持續(xù)進步的重要支撐。
2025/09/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享
8月16日，國家質(zhì)檢總局通報2017年第2批集成電路（IC）卡讀寫機產(chǎn)品質(zhì)量國家監(jiān)督抽查結(jié)果，共抽查了30家企業(yè)生產(chǎn)的30批次集成電路（IC）卡讀寫機產(chǎn)品，有4批次產(chǎn)品不符合標準的規(guī)定。
2017/09/05 更新 分類：監(jiān)管召回 分享
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