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本文介紹了AFM的基本工作原理,操作模式,三大特點及應用實例。
2021/08/17 更新 分類:科研開發(fā) 分享
XRD、TEM、AFM在表征粒徑大小方面各有優(yōu)勢,我們將分別從原理和應用來講解。
2019/05/08 更新 分類:法規(guī)標準 分享
本文講解當獲得AFM圖像后,如何正確地進行圖像分析和數(shù)據(jù)處理。
2021/04/13 更新 分類:檢測案例 分享
根據(jù)針尖與試樣表面相互作用力的變化,AFM主要有3種操作模式:接觸模式(contact mode),非接觸模式(non-contact mode)和敲擊模式(tapping mode)。
2018/06/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了原子力顯微鏡(AFM),原理,基本操作,測量架構(gòu),功能技術(shù),在材料科學研究中的應用及與其它顯微分析技術(shù)的的區(qū)別。
2022/03/06 更新 分類:科研開發(fā) 分享
AFM可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測,或者直接進行納米操縱;現(xiàn)已廣泛應用于半導體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學科的研究實驗等領(lǐng)域中,成為納米科學研究的基本工具。
2017/11/14 更新 分類:實驗管理 分享
德國聯(lián)邦物理技術(shù)研究院(PTB)新近制造的皮米壓痕儀使用原子力顯微鏡(AFM)的尖端作為壓頭來對納米材料進行尺寸和機械表征。這種壓頭現(xiàn)在得到了極大的提升:新興納米計量實驗室(LENA)利用聚焦離子束在AFM懸臂上制造出角錐狀的玻氏壓針,這也可以用于微型壓頭。與傳統(tǒng)的錐形AFM尖端相比,這種壓頭在機械上更穩(wěn)定,可長期進行快速動態(tài)測量,并且由于其高導電性,也能
2021/01/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹原子力顯微鏡(AFM)的原理與功能,闡述其在電池電極層多維度表征的應用及相關(guān)測試服務與送樣要求。
2025/12/09 更新 分類:科研開發(fā) 分享
AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測,或者直接進行納米操縱。它的的原理較為簡單,它是用微小探針“摸索”樣品表面來獲得信息
2019/09/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享
AFM全稱Atomic Force Microscope,即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測,或者直接進行納米操縱。AFM制樣時,對樣品導電與否沒有要求,因此測量范圍比較廣泛。
2019/09/16 更新 分類:科研開發(fā) 分享