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各位芯片行業(yè)的朋友們，今天，我想結合相關資料和最新研究，和大家聊聊FinFET技術中常見的失效分析（FA）問題、可靠性問題以及相應的定位方法。

2025/03/14 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文基于NVIDIA工程師在ISTFA 2023上發(fā)表的權威論文，深度剖析了電光太赫茲脈沖反射計（EOTPR）這一前沿技術，如何被整合到芯片級FA工作流程中，并通過幾個真實的GPU失效案例，展示了EOTPR在解決復雜封裝和芯片內部故障中的獨特價值和高效性。

2025/11/30 更新 分類：科研開發(fā) 分享

本文將帶您了解如何通過DPA分析技術，像"火眼金睛"一樣識別這些假冒偽劣器件。

2025/09/05 更新 分類：科研開發(fā) 分享

隨著我國武器裝備信息化程度的不斷加深，對于軍用元器件質量控制的要求亦逐步嚴格，軍用元器件的選型、二次篩選、DPA 和失效分析是確保其質量和可靠性的重要環(huán)節(jié)。元器件質量控制是為航空裝備型號質量保證提供證據(jù)的過程，這一過程通過一系列的調查、試驗和分析完成，是保證航空裝備型號科研、試驗和生產能滿足其預期目的重要手段。

2021/12/02 更新 分類：科研開發(fā) 分享

【發(fā)布單位】：衛(wèi)生福利部 【發(fā)布文號】：部授食字第1041303261號 【發(fā)布日期】：2015/9/21 【備注】：http://www.fda.gov.tw/TC/newsContent.aspx?id=14076chk=3939ec86-5184-4fdf-805b-14fa63b2830eparam=pn%3d1%26ci

2015/10/05 更新 分類：其他 分享

在試生產期間，經過溫度循環(huán)之后，一些樣品發(fā)生了光電失效。失效樣品的破壞性物理分析（DPA）顯示，二極管芯片上的裂紋把芯片分成兩部分。

2020/02/10 更新 分類：檢測案例 分享

在電子元器件從設計到使用的全生命周期中，失效分析（Failure Analysis, FA）是確?？煽啃缘暮诵沫h(huán)節(jié)。它如同電子世界的"法醫(yī)學"，通過系統(tǒng)化的方法揭示器件失效的真相。本文將側重說明失效物理分析（PFA）的基本程序、常見失效模式與機理，以及關鍵注意事項，帶您走進精密電子器件的微觀世界。

2025/08/20 更新 分類：檢測案例 分享

1.事件回顧 2021年10月29日格力又又被美國罰了，累計被罰9100萬美，約6億元人民幣呀，因為這是延期起訴協(xié)議（DPA）.....這看上去有點沒完沒了的感覺，讓人感到后怕。 美國司法部稱，

2021/11/03 更新 分類：監(jiān)管召回 分享

GJB4027《軍用電子元器件破壞性物理分析方法》本標準規(guī)定了軍用電子元器件破壞性物理分析(DPA)的通用方法。

2023/07/17 更新 分類：法規(guī)標準 分享

對抗體如何分類和命名？

2021/01/27 更新 分類：法規(guī)標準 分享