您當前的位置:檢測預(yù)警 > 欄目首頁
XRD、TEM、AFM在表征粒徑大小方面各有優(yōu)勢,我們將分別從原理和應(yīng)用來講解。
2019/05/08 更新 分類:法規(guī)標準 分享
本文主要介紹TEM衍射花樣的標定原理:復(fù)雜電子衍射花樣。
2021/02/01 更新 分類:實驗管理 分享
本文介紹了透射電子顯微鏡TEM之樣品制備方法。
2023/05/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文將對透射電鏡常見的各種制樣方法進行介紹與對比。
2023/06/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了根據(jù)樣品在不同情況中最常見的幾種TEM制樣方法。
2023/03/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了離子束制樣條件對TEM樣品形貌的影響。
2024/08/28 更新 分類:科研開發(fā) 分享
TEM作為一種常用的微觀結(jié)構(gòu)表征技術(shù)已經(jīng)在材料科學(xué)、生物等學(xué)科被廣泛應(yīng)用,而作為材料人的你又怎能不對TEM做深入的了解。今天來我們一起來看看如何搞定TEM透射電鏡衍射斑點標定
2019/09/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文通過舉例介紹不同粒徑大小的納米氧化硅顆粒的合成,并展示透射電鏡TEM對納米顆粒進行分析表征 結(jié)果。
2019/09/23 更新 分類:檢測案例 分享
TEM分析中電子衍射花樣的標定原理:電子衍射的原理
2022/12/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文從樣品制備到實際操作,教你如何才能拍出高質(zhì)量TEM照片。
2023/10/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享