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原位透射電子顯微學(xué)（in-situ TEM）是指直接在原子層次觀察樣品在力、熱、電、磁作用下以及化學(xué)反應(yīng)過(guò)程中的微結(jié)構(gòu)演化及進(jìn)行表征的過(guò)程，近年來(lái)成為材料研究的熱門領(lǐng)域。
2019/04/16 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享
近年來(lái)納米材料領(lǐng)域應(yīng)用的高端透射電鏡技術(shù)，并通過(guò)實(shí)例了解這些高端透射電鏡技術(shù)是如何助力納米材料發(fā)展的，主要包括高分辨透射技術(shù)、原位電鏡技術(shù)、低溫冷凍電鏡、球差電鏡。
2021/03/29 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文通過(guò)掃描電子顯微鏡 ( SEM) 和透射電子顯微鏡(TEM) 相結(jié)合的方法探討了應(yīng)力發(fā)白產(chǎn)生的原因，并通過(guò)加入不同種類的增韌劑、相容劑，以及提高色粉的含量以改善應(yīng)力發(fā)白的情況。
2023/04/04 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享
近期，韓國(guó)首爾基礎(chǔ)科學(xué)研究所在原位透射電鏡下構(gòu)建了包括放電介質(zhì)DBBQ和O2在內(nèi)的液態(tài)鋰空氣電池體系，并對(duì)其放電過(guò)程進(jìn)行了直接觀察。
2023/07/08 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享
電子顯微鏡（EM）的重要性不言而喻，但是想要適得其用卻并不容易。本文從樣品的制備、載網(wǎng)的選擇，到儀器的操作與使用，再到圖像和數(shù)據(jù)的分析進(jìn)行介紹。
2023/10/08 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享
研究人員采用TEM分析技術(shù)，對(duì)PbTiO3的晶體結(jié)構(gòu)和其在低溫下的演化過(guò)程進(jìn)行研究，結(jié)果可為PbTiO3鈣鈦礦的低溫結(jié)構(gòu)研究提供直觀、可靠的試驗(yàn)依據(jù)。
2024/06/24 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享
透射電子顯微鏡（Transmission Electron Microscope, 簡(jiǎn)稱TEM），是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來(lái)的顯微鏡。
2020/09/25 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享
程智電子測(cè)試能力及測(cè)試范圍。
2015/10/03 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享
近日，青島理工大學(xué)、西北工業(yè)大學(xué)以及加州大學(xué)伯克利分校等開(kāi)展聯(lián)合研究，基于點(diǎn)缺陷模型（PDM）理論，采用FIB-SEM雙束系統(tǒng)和高分辨TEM對(duì)激光增材制造鎳基高溫合金表面超鈍化膜進(jìn)行觀察分析，探究了超鈍化膜的形成過(guò)程，闡明了“二次鈍化”誘導(dǎo)超鈍化膜的形成本質(zhì)（因此，二次鈍化膜即為超鈍化膜）；同時(shí)基于金屬微觀組織特征及點(diǎn)缺陷模型理論，揭示了超鈍化膜的失效
2022/06/07 更新 分類：科研開(kāi)發(fā) 分享
本文將詳細(xì)討論在TEM樣品制備中如何選擇恰當(dāng)?shù)妮d網(wǎng)。
2024/11/04 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享
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