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  • XPS的測(cè)試與數(shù)據(jù)分析總結(jié)

    XPS是一種對(duì)固體表面進(jìn)行定性、定量分析和結(jié)構(gòu)鑒定的實(shí)用性很強(qiáng)的表面分析方法

    2019/09/10 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • XPS和AES的同屬表面分析方法有什么不同

    材料的表面分析技術(shù)主要有3種：俄歇電子能譜分析（AES）、X射線光電子能譜分析(XPS) 、原子力顯微鏡（AFM），今天主要對(duì)比學(xué)習(xí)前兩種。

    2020/07/13 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • XPS表面分析技術(shù)及應(yīng)用

    X射線光電子能譜（X-ray Photoelectron Spectroscopy，簡(jiǎn)稱XPS）是一種用于測(cè)定材料中元素組成、化學(xué)式、元素化學(xué)態(tài)及電子態(tài)的定量能譜分析技術(shù)。

    2020/10/13 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 淺表面微觀分析技術(shù)——X射線光電子能譜（XPS）

    本文介紹了淺表面微觀分析技術(shù)：X射線光電子能譜（XPS）的技術(shù)原理及應(yīng)用案例。

    2022/05/21 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 改性碳納米管的XPS測(cè)定與分析

    碳納米管以其獨(dú)特的結(jié)構(gòu)和優(yōu)異的性能，在納米、生物、能源、催化、電子材料等領(lǐng)域有很大的應(yīng)用潛力

    2018/10/09 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • X射線光電子能譜法(XPS)詳解

    X射線光電子能譜法(X-ray photoelectron spectroscopy，XPS)屬于侵入式分析技術(shù)，用來確定樣品中化學(xué)元素的氧化狀態(tài)。

    2024/03/08 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • XPS原理及其在表面分析中的應(yīng)用

    XPS原理及其在表面分析中的應(yīng)用

    2017/11/03 更新 分類：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • XPS的測(cè)試與數(shù)據(jù)分析

    XPS 的樣品一般是 10mm*10mm*5mm, 也可以更小些。厚度不能超過 5mm. XPS 分析室的真空度可以達(dá)到<10-9 Pa, 因此樣品要干燥，不能釋放氣體。XPS的靈敏度很高，待測(cè)樣品表面，絕對(duì)不能用手，手套接觸，也不要清洗。

    2019/09/10 更新 分類：實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 富缺陷碳材料的制備和表征方法

    文章通過Ar 等離子體蝕刻制備富含邊緣且無摻雜劑的石墨烯，并通過XPS、Raman和HRTEM的表征，證明了邊緣缺陷位點(diǎn)的存在。

    2021/08/03 更新 分類：科研開發(fā) 分享

  • 石墨烯（Graphene）常見的表征方法

    今天給大家介紹幾種對(duì)石墨烯來說常見的表征方法,主要包括SEM、TEM、AFM、FT-IR、Raman、PL、UV-Vis、NH3-TPD、XRD、XPS、分子動(dòng)力學(xué)（AIMD）模擬、EPR等。

    2022/12/12 更新 分類：科研開發(fā) 分享