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  • 科諾醫(yī)學(xué)研發(fā)在體反射式共聚焦顯微鏡做了哪些實(shí)驗(yàn)

    近日，江蘇藥監(jiān)局批準(zhǔn)了徐州市科諾醫(yī)學(xué)儀器設(shè)備有限公司研發(fā)的在體反射式共聚焦顯微鏡注冊(cè)申請(qǐng)，以下為產(chǎn)品注冊(cè)技術(shù)審評(píng)報(bào)告主要內(nèi)容。

    2025/03/25 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 常見(jiàn)軸承磨損失效模式與分析

    本文分析總結(jié)了常見(jiàn)的軸承磨損失效現(xiàn)象。

    2021/10/13 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • DRAM 保持能力損失機(jī)制

    本文闡釋 DRAM Retention 定義、影響因素、漏電機(jī)理，含免責(zé)聲明與參考文獻(xiàn)。

    2025/12/23 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • A型顯示的超聲波脈沖反射法的優(yōu)劣

    超聲檢測(cè)，業(yè)內(nèi)人士簡(jiǎn)稱(chēng)UT，是工業(yè)無(wú)損檢測(cè)中應(yīng)用最廣泛、使用頻率最高且發(fā)展較快的一種無(wú)損檢測(cè)技術(shù)

    2018/10/26 更新 分類(lèi)：法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 梯度結(jié)構(gòu)低反射的高效電磁屏蔽泡沫材料

    近日，中國(guó)科學(xué)院深圳先進(jìn)技術(shù)研究院、深圳先進(jìn)電子材料國(guó)際創(chuàng)新研究院研究員孫蓉團(tuán)隊(duì)發(fā)表了研究成果，開(kāi)發(fā)出具有低反射損耗特征的高效電磁屏蔽復(fù)合泡沫。 　　

    2021/06/02 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 帶墊板焊縫的超聲檢測(cè)回波識(shí)別

    為了準(zhǔn)確識(shí)別帶墊板焊縫進(jìn)行超聲波檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的真假反射回波信號(hào)，對(duì)帶墊板的單面焊雙面成形焊縫超聲檢測(cè)的反射回波信號(hào)的產(chǎn)生原因及特點(diǎn)進(jìn)行了分析。

    2024/11/18 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 反射式脈率模擬儀系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

    該研究針對(duì)越來(lái)越多的反射式可穿戴脈率產(chǎn)品，設(shè)計(jì)一種基于光電傳感器的反射式脈率模擬儀系統(tǒng)。該系統(tǒng)主要由光采集單元、信號(hào)合成單元、發(fā)光單元組成，通過(guò)采集反射式脈率產(chǎn)品的綠光信號(hào)光強(qiáng)，模擬人體脈率，發(fā)出不同的波形。實(shí)測(cè)結(jié)果表明，該系統(tǒng)能夠很好地模擬人體的脈率，具有理想的一致性。

    2020/12/31 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 管道內(nèi)倒角對(duì)焊縫超聲檢測(cè)的影響

    如果管道內(nèi)有倒角，可結(jié)合以下步驟進(jìn)行判別：1）查詢(xún)相關(guān)資料，了解該焊縫內(nèi)倒角情況；2）采用探頭檢測(cè)；3）確認(rèn)反射點(diǎn)是否落在焊縫上，采用直探頭檢測(cè)驗(yàn)證。直探頭檢測(cè)驗(yàn)證如果不存在異常反射波，則判斷為倒角異常反射波；4）如果認(rèn)為直探頭驗(yàn)證有疑問(wèn)，可采用TOFD或相控陣技術(shù)進(jìn)一步驗(yàn)證。

    2021/06/29 更新 分類(lèi)：檢測(cè)案例 分享

  • 變厚度復(fù)合材料結(jié)構(gòu)超聲反射法成像的缺陷識(shí)別與定量表征

    技術(shù)人員提出一種新型C掃描反射法自動(dòng)化檢測(cè)成像與缺陷識(shí)別方案，主要研究如何在保證檢測(cè)結(jié)果可靠的基礎(chǔ)上，通過(guò)不同成像方法的復(fù)合分析，擴(kuò)大缺陷分析區(qū)間的范圍，以實(shí)現(xiàn)不規(guī)則變厚度復(fù)合材料零件中缺陷的自動(dòng)化識(shí)別與定量表征。

    2021/11/10 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電光太赫茲脈沖反射計(jì)在芯片失效分析中的應(yīng)用

    本文基于NVIDIA工程師在ISTFA 2023上發(fā)表的權(quán)威論文，深度剖析了電光太赫茲脈沖反射計(jì)（EOTPR）這一前沿技術(shù)，如何被整合到芯片級(jí)FA工作流程中，并通過(guò)幾個(gè)真實(shí)的GPU失效案例，展示了EOTPR在解決復(fù)雜封裝和芯片內(nèi)部故障中的獨(dú)特價(jià)值和高效性。

    2025/11/30 更新 分類(lèi)：科研開(kāi)發(fā) 分享