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  • 陶瓷材料在芯片管殼中的封裝工藝流程

    本文主要介紹了國內(nèi)外封裝用陶瓷概況,封裝工藝流程圖及工藝條件。

    2021/11/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • LED有機(jī)硅封裝材料的老化特點(diǎn)

    本文以LED有機(jī)硅封裝膠老化為例,總結(jié)了硅橡膠作為L(zhǎng)ED封裝膠時(shí)發(fā)生熱氧老化的一般特點(diǎn)。

    2021/12/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 微電子器件封裝失效機(jī)理與對(duì)策

    本文主要介紹了微電子器件封裝失效機(jī)理與對(duì)策:封裝材料α射線引起的軟誤差,水汽引起的分層效應(yīng),金屬化腐蝕及鍵合引線失效。

    2022/01/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 封裝可靠性與失效分析

    將有源器件以及無源元件組裝到已完成膜層印燒/蒸發(fā)/濺射的基片上以后,這個(gè)混合微電路就可以進(jìn)行封裝了。組裝和封裝作為產(chǎn)品開發(fā)中的關(guān)鍵技術(shù)在業(yè)界引起人們?nèi)找嬖龆嗟年P(guān)注。

    2020/03/11 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 電子器件的封裝缺陷和失效

    電子器件是一個(gè)非常復(fù)雜的系統(tǒng),其封裝過程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此,研究封裝缺陷和失效需要對(duì)封裝過程有一個(gè)系統(tǒng)性的了解,這樣才能從多個(gè)角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。

    2021/01/07 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 倒裝芯片底部填充膠材料、工藝和可靠性

    底部填充膠(Underfill)作為一種重要的集成電路封裝電子膠黏劑,在先進(jìn)封裝如2.5D、3D封裝中,用于緩解芯片封裝中不同材料之間熱膨脹系數(shù)不匹配帶來的應(yīng)力集中問題,進(jìn)而提高器件封裝可靠性。

    2022/06/09 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 艦載天線穩(wěn)定平臺(tái)電磁干擾EMC測(cè)試以及設(shè)計(jì)分析

    艦載天線穩(wěn)定平臺(tái)是為安裝在船舶桅桿上的微波天線提供一個(gè)不受船舶搖擺影響的安裝水平面,其功能是在艦船搖擺情況下,補(bǔ)償艦體運(yùn)動(dòng)引起的縱、橫搖擺角,使天線始終垂直于水平面。

    2018/07/04 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 從封裝氣密性看元器件可靠性

    氣密封裝元器件可靠性要比非氣密封裝高一個(gè)數(shù)量級(jí)以上,氣密封裝元器件一般按軍標(biāo)、宇航標(biāo)準(zhǔn)嚴(yán)格控制設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、測(cè)試、檢驗(yàn)等多個(gè)環(huán)節(jié),失效率低,多用于高可靠應(yīng)用領(lǐng)域。

    2020/03/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 電磁兼容基礎(chǔ)-暗室知識(shí)、RFID知識(shí)、基站天線的種類和相關(guān)知識(shí)

    電磁兼容基礎(chǔ)-暗室知識(shí)、RFID知識(shí)、基站天線的種類和相關(guān)知識(shí)

    2019/05/08 更新 分類:科研開發(fā) 分享

  • 天線測(cè)試暗室的吸波材料分析

    電子設(shè)備中信息通過傳導(dǎo)和輻射的形式向外部泄露,對(duì)于信息安全來說電磁輻射比傳導(dǎo)更容易被偵獲,也一直是TEMPEST技術(shù)分析的重點(diǎn)

    2019/07/29 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享