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本文介紹了在EMC、RF測試中常用天線和在進(jìn)行EMC和RF測試中的幾個基本概念。
2023/06/20 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了LED芯片失效和封裝失效的原因分析。
2021/10/15 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文主要介紹了功率器件的失效分析及封裝工藝優(yōu)化研究。
2022/03/02 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文介紹了先進(jìn)封裝技術(shù)的發(fā)展趨勢
2022/10/13 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對芯片封裝測試流程進(jìn)行詳細(xì)介紹。
2024/12/10 更新 分類:科研開發(fā) 分享
封裝劃片引起的失效分析。
2025/07/24 更新 分類:檢測案例 分享
CPU封裝開路故障的精準(zhǔn)定位新方法。
2025/12/01 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文簡要地說明了半導(dǎo)體內(nèi)存封裝工藝。
2025/12/27 更新 分類:科研開發(fā) 分享
直播衛(wèi)星電視接收天線(拋物面天線)產(chǎn)品檢驗項目、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn),直播衛(wèi)星電視接收天線(船載天線)產(chǎn)品檢驗項目、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn),直播衛(wèi)星一體化室外單元產(chǎn)品檢驗項目、依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)
2019/01/21 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
本文提出了一種基于開闊場的相控陣?yán)走_(dá)天線諧波輻射發(fā)射改進(jìn)型測試方法,構(gòu)建了相控陣?yán)走_(dá)天線諧波測試系統(tǒng),并以某型相控陣?yán)走_(dá)天線諧波輻射發(fā)射測試為例,驗證了該方法在雷達(dá)天線有效輻射功率測定,分辨率帶寬設(shè)置等諧波輻射發(fā)射測試細(xì)節(jié)等方面,具有較強(qiáng)的工程可行性。
2020/09/23 更新 分類:科研開發(fā) 分享