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  • PCB/PCBA失效分析思路

    PCB在實(shí)際可靠性問(wèn)題失效分析中,同一種失效模式,其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的,因此就如同查案一樣,需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段,方能找到真正的失效原因。

    2020/03/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • SiP組件中芯片失效機(jī)理與失效分析

    本文通過(guò)故障樹(shù)分析方法,使用適合SiP產(chǎn)品形態(tài)的失效分析手段,討論常見(jiàn)的管芯失效機(jī)理以及相應(yīng)失效現(xiàn)象,并從設(shè)計(jì)和工藝角度提出降低各種失效機(jī)理發(fā)生的改進(jìn)措施,作為SiP組件的可靠設(shè)計(jì)和生產(chǎn)的參考。

    2022/02/10 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • low K材料 IC 的裂紋失效模式初探

    產(chǎn)品出現(xiàn)早期失效,或安裝后上電不正常,或運(yùn)行幾個(gè)月就失效。從時(shí)間角度看,屬于早期失效。通過(guò)分析,是芯片失效,在邊沿出現(xiàn)了裂紋,擴(kuò)展到有源區(qū)造成功能失效。

    2024/04/25 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 失效分析之電子元器件

    電子元器件失效分析的目的是借助各種測(cè)試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確認(rèn)最終的失效原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。

    2015/10/23 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 認(rèn)識(shí)PCB/PCBA失效分析

    通過(guò)對(duì)PCB及PCBA的失效現(xiàn)象進(jìn)行失效分析,通過(guò)一系列分析驗(yàn)證,找出失效原因,挖掘失效機(jī)理,對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量,改進(jìn)生產(chǎn)工藝,仲裁失效事故有重要意義。

    2016/08/28 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 詳解消滅EMC的三大利器:電容器/電感/磁珠

    濾波電容器、共模電感、磁珠在EMC設(shè)計(jì)電路中是常見(jiàn)的身影,也是消滅電磁干擾的三大利器。對(duì)于這三者在電路中的作用,相信還有很多工程師搞不清楚,文章從設(shè)計(jì)中詳細(xì)分析了消滅EMC三大利器的原理。

    2019/06/19 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 重金屬檢測(cè)方法匯總

    通常認(rèn)可的重金屬分析方法有:紫外可分光光度法(UV)、原子吸收法(AAS)、原子熒光法(AFS)、電感耦合等離子體法(ICP)、X?zé)晒夤庾V(XRF)、電感耦合等離子質(zhì)譜法(ICP-MS)。日本和歐盟國(guó)家有的采用電感耦合等離子質(zhì)譜法(ICP-MS)分析,但對(duì)國(guó)內(nèi)用戶而言,儀器成本高。陽(yáng)極溶出法,檢測(cè)速度快,數(shù)值準(zhǔn)確,可用于現(xiàn)場(chǎng)等環(huán)境應(yīng)急檢測(cè)。X?zé)晒夤庾V(XRF)分析,優(yōu)點(diǎn)是

    2022/06/18 更新 分類(lèi):科研開(kāi)發(fā) 分享

  • 電感耦合等離子體發(fā)射光譜法測(cè)定鈉電池正極材料硫酸亞鐵鈉中鈉、鐵、硫含量

    電感耦合等離子體發(fā)射光譜(ICP-OES)法具有高線性范圍、多元素同時(shí)測(cè)定、穩(wěn)定性?xún)?yōu)異的特點(diǎn)[13?15],筆者建立ICP-OES法同時(shí)測(cè)定硫酸亞鐵鈉正極材料中鈉、鐵、硫含量,討論了儀器參數(shù)、樣品消解、分析譜線等對(duì)結(jié)果的影響。

    2025/08/18 更新 分類(lèi):實(shí)驗(yàn)管理 分享

  • 激光剝蝕-多接收電感耦合等離子體質(zhì)譜法確定副礦物U-Pb同位素年齡

    筆者建立激光剝蝕-多接受電感耦合等離子體質(zhì)譜U-Pb定年方法,并重點(diǎn)優(yōu)化高空間分辨率(束斑直徑小于40 μm)模式下的分析條件,顯著抑制了剝蝕過(guò)程中的分餾效應(yīng)。結(jié)合原位微區(qū)元素分布與剝蝕深度分析,評(píng)估了鋯石與磷灰石的基體效應(yīng),為跨礦物基體的高精度年齡對(duì)比提供了關(guān)鍵校正依據(jù)。該方法顯著提升了高空間分辨率U-Pb定年的可靠性,靈敏度高,為解決成礦過(guò)程和多期

    2025/11/20 更新 分類(lèi):法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享

  • 電阻器常見(jiàn)的失效模式與失效機(jī)理

    電阻器常見(jiàn)的失效模式與失效機(jī)理

    2016/09/22 更新 分類(lèi):生產(chǎn)品管 分享