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聚焦離子束(FIB)技術(shù)因其在微細(xì)加工和器件分析中的關(guān)鍵作用而變得日益重要。
2024/09/05 更新 分類:科研開發(fā) 分享
最新版標(biāo)準(zhǔn)IEC 61010-1: 2010+A1: 2016于2016年12月16日發(fā)布,該版本為IEC 61010-1: 2010的修訂版,對比這兩個(gè)版本的標(biāo)準(zhǔn),較大的變化可總結(jié)為以下幾點(diǎn)
2018/01/29 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
文章分析了電磁兼容問題的基本分類、電磁兼容現(xiàn)象的危害,以及醫(yī)用電子設(shè)備的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)基本要求。
2019/05/06 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
文章分析了電磁兼容問題的基本分類、電磁兼容現(xiàn)象的危害,以及醫(yī)用電子設(shè)備的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)基本要求。
2019/09/10 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
模擬運(yùn)輸試驗(yàn)是醫(yī)用電氣產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)中機(jī)械環(huán)境試驗(yàn)的一項(xiàng)重要試驗(yàn)項(xiàng)目,運(yùn)輸試驗(yàn)屬于隨機(jī)的疲勞累積損傷試驗(yàn)。
2020/08/24 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文對放射治療器械相關(guān)技術(shù)指導(dǎo)原則、標(biāo)準(zhǔn)、臨床評價(jià)路徑進(jìn)行了匯總。
2023/02/24 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
文章分析了電磁兼容問題的基本分類、電磁兼容現(xiàn)象的危害,以及醫(yī)用電子設(shè)備的電磁兼容標(biāo)準(zhǔn)基本要求。
2023/12/16 更新 分類:法規(guī)標(biāo)準(zhǔn) 分享
今天就出一期關(guān)于PEMS的簡單解析,讓我們來判斷一下我們需不需要提供PEMS相關(guān)文檔!
2024/09/19 更新 分類:科研開發(fā) 分享
本文描述了符合IEC 61010-1:2010+AMD1:2016產(chǎn)品在完成制造后的例行檢驗(yàn)測試要求。該測試有助于識別制造中功能測試可能檢查不到的故障或不可接受的公差。
2022/03/26 更新 分類:科研開發(fā) 分享
聚焦離子束技術(shù)在微電子行業(yè)的廣泛應(yīng)用, 大大提高了微電子工業(yè)上材料、工藝、器件分析及修補(bǔ)的精度和速度, 目前已經(jīng)成為電子技術(shù)領(lǐng)域必不可少的關(guān)鍵技術(shù)之一。
2019/09/12 更新 分類:科研開發(fā) 分享